Результати пошуку - Perevertailo, V.L.
- Показ 1 - 7 результатів із 7
-
1
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения за авторством Perevertailo, V. L.
Опубліковано 2012Отримати повний текст
Стаття -
2
Интегральные двухсторонние кремниевые микростриповые детекторы за авторством Perevertailo, V. L.
Опубліковано 2011Отримати повний текст
Стаття -
3
Проблемы и задачи развития технологий микроэлектроники в Украине за авторством Perevertailo, V. L.
Опубліковано 2007Отримати повний текст
Стаття -
4
Anti-reflection coatings based on SnO₂, SiO₂, Si₃N₄ films for photodiodes operating in ultraviolet and visible spectral ranges за авторством Dobrovolskiy, Yu.G., Perevertailo, V.L., Shabashkevich, B.G.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Отримати повний текст
Стаття -
5
Single detector-dual scintillator anti-Compton probes за авторством Rosenfeld, A.B., Lerch, M.F.L., Takacs, G.J., Gektin, A.V., Perevertailo, V.L.
Опубліковано в: Functional Materials (2004)Отримати повний текст
Стаття -
6
Characteristics and radiation tolerance of a double-sided microstrip detector with polysilicon biasing resistors за авторством de Haas, A.P., Kuijer, P., Kulibaba, V.I., Maslov, N.I., Perevertailo, V.L., Ovchinnik, V.D., Potin, S.M., Starodubtsev, A.F.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2000)Отримати повний текст
Стаття -
7
Фотодиод ультрафиолетового диапазона на основе селенида цинка за авторством Perevertailo, V. L., Dobrovol’skiy, Yu. G., Popov, V. M., Pokanevich, A. P., Matskevich, V. M., Rizhikov, V. D., Shabashkevich, B. G., Yur’yev, V. G.
Опубліковано 2010Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Experimental methods
MOS structure
Schottky photodiode
UV radiation
capacitors with double layer dielectric
coefficient of dose dependence
development program
dosimetry
integrated polysilicon resistors
low-energy X-rays
microelectronics in Ukraine
n -side of the detector
n -стороны детектора
radiation hardness of IC
radiation resistance
radiation testing
radiometry
silicon integrated technology
technology of р -
МОП-структура
УФ-излучение
дозиметрия
конденсатор с двухслойным диэлектриком
коэффициент дозовой зависимости
кремниевая интегральная технология
микроэлектроника в Украине
низкоэнергетическое рентгеновское излучение,
поликремниевые интегрированные резисторы
программа развития
радиационная стойкость