Результати пошуку - Sabov, T.M.
- Показ 1 - 4 результатів із 4
-
1
Influence of deposition rate and substrate temperature on structure and optical features of NiO thin film за авторством Oberemok, O.S., Sabov, T.M., Lisovskyy, I.P., Khacevych, I.M., Gudymenko, O.Yo., Nikirin, V.A., Voitovych, M.V.
Опубліковано в: Functional Materials (2016)Отримати повний текст
Стаття -
2
Be-ion-implanted p-n InSb diode for infrared applications. Modeling, fabrication, and characterization за авторством Korotyeyev, V.V., Kochelap, V.O., Sapon, S.V., Romaniuk, B.M., Melnik, V.P., Dubikovskyi, O.V., Sabov, T.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2018)Отримати повний текст
Стаття -
3
The effect of ion implantation on structural damage in compositionally graded AlGaN layers за авторством Liubchenko, O.I., Kladko, V.P., Stanchu, H.V., Sabov, T.M., Melnik, V.P., Kryvyi, S.B., Belyaev, A.Ye.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Отримати повний текст
Стаття -
4
Oxygen ion-beam modification of vanadium oxide films for reaching a high value of the resistance temperature coefficient за авторством Sabov, T.M., Oberemok, O.S., Dubikovskyi, O.V., Melnik, V.P., Kladko, V.P., Romanyuk, B.M., Popov, V.G., Gudymenko, O.Yo., Safriuk, N.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2017)Отримати повний текст
Стаття