Результати пошуку - Shepelyavyi, P.E.
- Показ 1 - 4 результатів із 4
-
1
Мiкроструктура тонких композитних плiвок Si–Sn за авторством Neimash, V. B., Poroshin, V. M., Kabaldin, A. M., Yukhymchuk, V. O., Shepelyavyi, P. E., Makara, V. A., Larkin, S. Yu.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
2
Роль олова у формуванні мікро- і наноструктури поверхні шаруватих плівок Si–Sn–Si за авторством Neimash, V.B., Shepelyavyi, P.E., Nikolenko, A.S., Strelchuk, V.V., Chegel, V.I., Olkhovyk, I.V., Voronov, S.O.
Опубліковано 2023
Отримати повний текст
Стаття -
3
Вплив пасткових станiв на кiнетику люмiнесценцiї та наведеного поглинання свiтла наночастинками Si в SiO2 матрицi при збудженнi фемтосекундними лазерними iмпульсами... за авторством Kadan, V. M., Indutnyi, I. Z., Dan’ko, V. A., Shepelyavyi, P. E., Dmitruk, I. M., Korenyuk, P. I., Blonsky, I. V.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
4
Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se за авторством Indutny, I. Z., Kryuchyn, A. A., Borodin, Yu. A., Danko, V. A., Lukanyuk, M. V., Minko, V. I., Shepelyavyi, P. E., Gera, E. V., Rubish, V. M.
Опубліковано 2013Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Auger method
Auger-process
CCD-camera
Microstructure of thin composite films
Raman spectroscopy
amorphous silicon
effect of luminescence fatigue
fluence
inorganic photo-resist
lux-intensive characteristics
micro-relief structure
nanocrystals
optical recording
pump-probe
surface structure
telegraph-like signal
thermal vacuum sputtering
thin films
tin
transient absorption
trap states
white supercontinuum
Оже-процес
ПЗЗ-камера
аморфний кремнiй
бiлий суперконтинуум
густина енергiї
ефект втоми випромiнювання
збудження-зондування
люкс-iнтенсивностна характеристика