Результати пошуку - Sizov, F.F.
- Показ 1 - 20 результатів із 22
- На наступну сторінку
-
1
Infrared and terahertz in biomedicine за авторством Sizov, F.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2017)Отримати повний текст
Стаття -
2
Performance limits of terahertz zero biased rectifying detectors for direct detection за авторством Golenkov, A.G., Sizov, F.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2016)Отримати повний текст
Стаття -
3
-
4
-
5
Optically induced change of photoelectric properties of CdMnTe crystals за авторством Savkina, R.K., Sizov, F.F., Smirnov, A.B.
Опубліковано в: Functional Materials (2005)Отримати повний текст
Стаття -
6
Infrared blocking materials за авторством Tsybrii, Z.F., Sizov, F.F., Golenkov, A.G.
Опубліковано в: Доповіді НАН України (2020)Отримати повний текст
Стаття -
7
-
8
-
9
Устройства считывания информации с крупноформатных матриц ИК-фотодиодов за авторством Reva, V. P., Marchishin, I. V., Korinets, S. V., Sizov, F. F.
Опубліковано 2011Отримати повний текст
Стаття -
10
Noise in HgCdTe LWIR arrays за авторством Sizov, F.F., Golenkov, A.G., Zabudsky, V.V., Reva, V.P.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2002)Отримати повний текст
Стаття -
11
Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)Отримати повний текст
Стаття -
12
Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2006)Отримати повний текст
Стаття -
13
Layer structure formation in Hg₁₋xCdxTe films after high-frequency sonication за авторством Savkina, R.K., Sizov, F.F., Smirnov, A.B., Tetyorkin, V.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2006)Отримати повний текст
Стаття -
14
Narrow-gap piezoelectric heterostructure as IR detector за авторством Sizov, F.F., Smirnov, A.B., Savkina, R.K., Deriglazov, V.A., Yakushev, M.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2012)Отримати повний текст
Стаття -
15
Чутливість матриць ПЗЗ із електронним множенням за авторством Sizov, F. F., Golenkov, A. G., Reva, V. P., Zabudsky, V. V., Korinets, S. V., Torchinsky, А. М.
Опубліковано 2018Отримати повний текст
Стаття -
16
Photoelectrical characteristics of two-dimensional macroporous silicon structures за авторством Karachevtseva, L.A., Onischenko, V.F., Karas, M.I., Dandur’yants, O.I., Sizov, F.F., Stronska, O.J.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2004)Отримати повний текст
Стаття -
17
ПЗЗ-фотоматриці з електронним множенням за авторством Reva, V. P., Korinets, S. V., Golenkov, О. G., Sapon, S. V., Torchinsky, A. M., Zabudsky, V. V., Sizov, F. F.
Опубліковано 2017Отримати повний текст
Стаття -
18
-
19
IR sensor readout devices with source input circuits за авторством Sizov, F.F., Reva, V.P., Derkach, Yu.P., Kononenko, Yu.G., Golenkov, A.G., Korinets, S.V., Darchuk, S.D., Filenko, D.A.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)Отримати повний текст
Стаття -
20
Structure and optical properties of AlN films obtained using the cathodic arc plasma deposition technique за авторством Shapovalov, A.P., Korotash, I.V., Rudenko, E.M., Sizov, F.F., Dubyna, D.S., Osipov, L.S., Polotskiy, D.Yu., Tsybrii, Z.F., Korchovyi, A.A.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
electronic multiplication
електронне множення
CCD photomatrix
CCD-photomatrix
HgCdTe
I-V characteristic
IR region
direct illumination
identification of objects
infrared photodiodes
low illumination
near infrared
photodetecting device
photodiode
range of detection
reading circuit
sensitivity
silicon integrated circuits
visible light
ІЧ-діапазон
ВАХ
ИК-фотодиоды
ПЗP-фотоматриці
ПЗЗ-фотоматриці
Фізика
ближній ІЧ-діапазон
видиме випромінювання
дальність виявлення
кремниевые интегральные схемы
низькі освітленості