Показ 1 - 20 результатів із 30 для пошуку 'Sizov, F.F.', час виконання запиту: 0.02сек. Уточнити результати
  1. 1
    Infrared detectors: outlook and means
    за авторством Sizov, F.F.
    Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    Performance limits of terahertz zero biased rectifying detectors for direct detection
    за авторством Golenkov, A.G., Sizov, F.F.
    Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2016)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  3. 3
    Optically induced change of photoelectric properties of CdMnTe crystals
    за авторством Savkina, R.K., Sizov, F.F., Smirnov, A.B.
    Опубліковано в: Functional Materials (2005)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  4. 4
    Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials
    за авторством Maslov, V.P., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F.
    Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  5. 5
    Ellipsometric control of quality of polished MgF₂ optical ceramics
    за авторством Maslov, V.P., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F.
    Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2004)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  6. 6
    Erratum: to the paper “Influence of elastic deformation on the residual ellipticity of polished optical materials”
    за авторством Maslov, V.P., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F.
    Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2004)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  7. 7
    Infrared blocking materials
    за авторством Tsybrii, Z.F., Sizov, F.F., Golenkov, A.G.
    Опубліковано в: Доповіді НАН України (2020)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  8. 8
    Noise spectra and dark current investigations in n⁺-p-type Hg₁₋xCdxTe (x ≈ 0.22) photodiodes
    за авторством Ivasiv, Z.F., Sizov, F.F., Tetyorkin, V.V.
    Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  9. 9
    Dislocations as internal sources of infrared radiation in crystals subjected to ultrasonic influence
    за авторством Savkina, R.K., Smirnov, A.B., Sizov, F.F.
    Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2007)
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  10. 10
    Electron relaxation and mobility in the inverted band quantum well CdTe/Hg₁₋xCdxTe/CdTe
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  11. 11
    Simulated properties of printed antennas on silicon substrates for THz/sub-THz arrays
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  12. 12
    Composition and concentration dependences of electron mobility in semi-metal Hg₁₋xCdxTe quantum wells
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  13. 13
    Устройства считывания информации с крупноформатных матриц ИК-фотодиодов
    за авторством Reva, V. P., Marchishin, I. V., Korinets, S. V., Sizov, F. F.
    Опубліковано 2011
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  14. 14
    Layer structure formation in Hg₁₋xCdxTe films after high-frequency sonication
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  15. 15
    Noise in HgCdTe LWIR arrays
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  16. 16
    Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  17. 17
    Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  18. 18
    Narrow-gap piezoelectric heterostructure as IR detector
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  19. 19
    Sub-THz nonresonant detection in AlGaN/GaN heterojunction FETs
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  20. 20
    Чутливість матриць ПЗЗ із електронним множенням
    за авторством Sizov, F. F., Golenkov, A. G., Reva, V. P., Zabudsky, V. V., Korinets, S. V., Torchinsky, А. М.
    Опубліковано 2018
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
Інструменти для пошуку: Отримати RSS-стрічку – Відправити пошук е-поштою