Polarization conversion effect in obliquely deposited SiOx films

von Sopinskyy, M.V., Indutnyi, I.Z., Michailovska, K.V., Shepeliavyi, P.E., Tkach, V.M.
Veröffentlicht 2011

Comprehensive investigation of defects in highly perfect silicon single crystals

von Prokopenko, I.V., Kislovskii, E.N., Olikhovskii, S.I., Tkach, V.M., Lytvyn, P.M., Vladimirova, T.P.
Veröffentlicht 2000

Радiацiйнi пошкодження багатостiнних вуглецевих нанотрубок при опромiненнi електронами

von Pinchuk-Rugal, T. M., Dmytrenko, O. P., Kulish, M. P., Bulavin, L. A., Nychyporenko, O. S., Grabovskyi, Yu. E., Zabolotnyi, M. A., Strelchuk, V. V., Nikolenko, A. S., Shlapatska, V. V., Tkach, V. M.
Veröffentlicht 2019

Вплив тиску аргону в камерi осадження на властивостi легованих алюмiнiєм плiвок ZnO, вирощених методом пошарового осадження при магнетронному розпиленнi...

von Popovych, V. I., Ievtushenko, A. I., Lytvyn, O. S., Romanjuk, V. R., Tkach, V. M., Baturyn, V. A., Karpenko, O. Y., Dranchuk, M. V., Klochkov, L. O., Dushejko, M. G., Karpyna, V. A., Lashkarov, G. V.
Veröffentlicht 2019