Suchergebnisse - Tkach, V. M.
- Treffer 1 - 7 von 7
-
1
МОДЕЛЮВАННЯ МІКРОХОЛОДИЛЬНИКІВ З ЕФЕКТОМ ДЖОУЛЯ–ТОМСОНА von Krukovsky, P.G., Tkach, V.M.
Veröffentlicht 2025
Volltext
Artikel -
2
-
3
-
4
-
5
Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data von Borcha, M.D., Solodkyi, M.S., Balovsyak, S.V., Tkach, V.M., Hutsuliak, I.I., Kuzmin, A.R., Tkach, O.O., Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Liubchenko, О.І., Swiatek, Z.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Volltext
Artikel -
6
Радiацiйнi пошкодження багатостiнних вуглецевих нанотрубок при опромiненнi електронами von Pinchuk-Rugal, T. M., Dmytrenko, O. P., Kulish, M. P., Bulavin, L. A., Nychyporenko, O. S., Grabovskyi, Yu. E., Zabolotnyi, M. A., Strelchuk, V. V., Nikolenko, A. S., Shlapatska, V. V., Tkach, V. M.
Veröffentlicht 2019
Volltext
Artikel -
7
Вплив тиску аргону в камерi осадження на властивостi легованих алюмiнiєм плiвок ZnO, вирощених методом пошарового осадження при магнетронному розпиленнi... von Popovych, V. I., Ievtushenko, A. I., Lytvyn, O. S., Romanjuk, V. R., Tkach, V. M., Baturyn, V. A., Karpenko, O. Y., Dranchuk, M. V., Klochkov, L. O., Dushejko, M. G., Karpyna, V. A., Lashkarov, G. V.
Veröffentlicht 2019
Volltext
Artikel
Suchwerkzeuge:
Ähnliche Schlagworte
-
Raman scattering
Semiconductor Physics
X-ray diffraction
X-ray diffraction analysis
ZnO films
aluminum doping
argon pressure effect
destruction
electron irradiation
multiwalled carbon nanotubes
radiation-induced damages
багатостiннi вуглецевi нанотрубки (БВНТ)
вплив тиску аргону
деструкцiя
електронне опромiнення
комбiнацiйне розсiяння свiтла (КРС)
легування алюмiнiєм
плiвки ZnO
радiацiйнi пошкодження
рентгенiвська дифракцi
рентгенiвський дифракцiйний аналiз