Search Results - Tkach, V. M.
- Showing 1 - 7 results of 7
-
1
МОДЕЛЮВАННЯ МІКРОХОЛОДИЛЬНИКІВ З ЕФЕКТОМ ДЖОУЛЯ–ТОМСОНА by Krukovsky, P.G., Tkach, V.M.
Published 2025
Get full text
Article -
2
-
3
-
4
-
5
Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data by Borcha, M.D., Solodkyi, M.S., Balovsyak, S.V., Tkach, V.M., Hutsuliak, I.I., Kuzmin, A.R., Tkach, O.O., Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Liubchenko, О.І., Swiatek, Z.
Published in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Get full text
Article -
6
Радiацiйнi пошкодження багатостiнних вуглецевих нанотрубок при опромiненнi електронами by Pinchuk-Rugal, T. M., Dmytrenko, O. P., Kulish, M. P., Bulavin, L. A., Nychyporenko, O. S., Grabovskyi, Yu. E., Zabolotnyi, M. A., Strelchuk, V. V., Nikolenko, A. S., Shlapatska, V. V., Tkach, V. M.
Published 2019
Get full text
Article -
7
Вплив тиску аргону в камерi осадження на властивостi легованих алюмiнiєм плiвок ZnO, вирощених методом пошарового осадження при магнетронному розпиленнi... by Popovych, V. I., Ievtushenko, A. I., Lytvyn, O. S., Romanjuk, V. R., Tkach, V. M., Baturyn, V. A., Karpenko, O. Y., Dranchuk, M. V., Klochkov, L. O., Dushejko, M. G., Karpyna, V. A., Lashkarov, G. V.
Published 2019
Get full text
Article
Search Tools:
Related Subjects
-
Raman scattering
Semiconductor Physics
X-ray diffraction
X-ray diffraction analysis
ZnO films
aluminum doping
argon pressure effect
destruction
electron irradiation
multiwalled carbon nanotubes
radiation-induced damages
багатостiннi вуглецевi нанотрубки (БВНТ)
вплив тиску аргону
деструкцiя
електронне опромiнення
комбiнацiйне розсiяння свiтла (КРС)
легування алюмiнiєм
плiвки ZnO
радiацiйнi пошкодження
рентгенiвська дифракцi
рентгенiвський дифракцiйний аналiз