Результати пошуку - Tkach, V. M.
- Показ 1 - 7 результатів із 7
-
1
МОДЕЛЮВАННЯ МІКРОХОЛОДИЛЬНИКІВ З ЕФЕКТОМ ДЖОУЛЯ–ТОМСОНА за авторством Krukovsky, P.G., Tkach, V.M.
Опубліковано 2025
Отримати повний текст
Стаття -
2
-
3
Comprehensive investigation of defects in highly perfect silicon single crystals за авторством Prokopenko, I.V., Kislovskii, E.N., Olikhovskii, S.I., Tkach, V.M., Lytvyn, P.M., Vladimirova, T.P.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)Отримати повний текст
Стаття -
4
-
5
Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data за авторством Borcha, M.D., Solodkyi, M.S., Balovsyak, S.V., Tkach, V.M., Hutsuliak, I.I., Kuzmin, A.R., Tkach, O.O., Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Liubchenko, О.І., Swiatek, Z.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Отримати повний текст
Стаття -
6
Радiацiйнi пошкодження багатостiнних вуглецевих нанотрубок при опромiненнi електронами за авторством Pinchuk-Rugal, T. M., Dmytrenko, O. P., Kulish, M. P., Bulavin, L. A., Nychyporenko, O. S., Grabovskyi, Yu. E., Zabolotnyi, M. A., Strelchuk, V. V., Nikolenko, A. S., Shlapatska, V. V., Tkach, V. M.
Опубліковано 2019
Отримати повний текст
Стаття -
7
Вплив тиску аргону в камерi осадження на властивостi легованих алюмiнiєм плiвок ZnO, вирощених методом пошарового осадження при магнетронному розпиленнi... за авторством Popovych, V. I., Ievtushenko, A. I., Lytvyn, O. S., Romanjuk, V. R., Tkach, V. M., Baturyn, V. A., Karpenko, O. Y., Dranchuk, M. V., Klochkov, L. O., Dushejko, M. G., Karpyna, V. A., Lashkarov, G. V.
Опубліковано 2019
Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
-
Raman scattering
Semiconductor Physics
X-ray diffraction
X-ray diffraction analysis
ZnO films
aluminum doping
argon pressure effect
destruction
electron irradiation
multiwalled carbon nanotubes
radiation-induced damages
багатостiннi вуглецевi нанотрубки (БВНТ)
вплив тиску аргону
деструкцiя
електронне опромiнення
комбiнацiйне розсiяння свiтла (КРС)
легування алюмiнiєм
плiвки ZnO
радiацiйнi пошкодження
рентгенiвська дифракцi
рентгенiвський дифракцiйний аналiз