Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate

von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.
Veröffentlicht 2005

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry

von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.
Veröffentlicht 2006

Infrared spectroscopy and electroreflectance in the region of fundamental optical transition E₀ of heavily doped n-GaAs (100)

von Gentsar, P.O., Vlasenko, O.I., Vuichyk, M.V., Stronski, O.V.
Veröffentlicht 2009

Optical properties of AlN/n-Si(111) films obtained by method of HF reactive magnetron sputtering

von Zayats, M.S., Boiko, V.G., Gentsar, P.O., Vuichyk, M.V., Lytvyn, O.S., Stronski, A.V.
Veröffentlicht 2010

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD

von Vuichyk, M.V., Tsybrii, Z.F., Lavoryk, S.R., Svezhentsova, K.V., Virt, I.S., Chizhov, A.
Veröffentlicht 2014

Дискретні фотоприймачі середньохвильового ІЧ-діапазону спектру на основі HgCdTe

von Tsybrii, Z. F., Andreeva, K. V., Apatska, M. V., Bunchuk, S. G., Vuichyk, M. V., Golenkov, O. G., Dmytruk, N. V., Zabudsky, V. V., Lysiuk, I. O., Svezhentsova, K. V., Smolii, M. I., Sizov, F. F.
Veröffentlicht 2017