Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate

за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.
Опубліковано 2005

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry

за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.
Опубліковано 2006

Infrared spectroscopy and electroreflectance in the region of fundamental optical transition E₀ of heavily doped n-GaAs (100)

за авторством Gentsar, P.O., Vlasenko, O.I., Vuichyk, M.V., Stronski, O.V.
Опубліковано 2009

Optical properties of AlN/n-Si(111) films obtained by method of HF reactive magnetron sputtering

за авторством Zayats, M.S., Boiko, V.G., Gentsar, P.O., Vuichyk, M.V., Lytvyn, O.S., Stronski, A.V.
Опубліковано 2010

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD

за авторством Vuichyk, M.V., Tsybrii, Z.F., Lavoryk, S.R., Svezhentsova, K.V., Virt, I.S., Chizhov, A.
Опубліковано 2014

Дискретні фотоприймачі середньохвильового ІЧ-діапазону спектру на основі HgCdTe

за авторством Tsybrii, Z. F., Andreeva, K. V., Apatska, M. V., Bunchuk, S. G., Vuichyk, M. V., Golenkov, O. G., Dmytruk, N. V., Zabudsky, V. V., Lysiuk, I. O., Svezhentsova, K. V., Smolii, M. I., Sizov, F. F.
Опубліковано 2017