Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.

Отримати повний текст

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.

Отримати повний текст

Infrared spectroscopy and electroreflectance in the region of fundamental optical transition E₀ of heavily doped n-GaAs (100) за авторством Gentsar, P.O., Vlasenko, O.I., Vuichyk, M.V., Stronski, O.V.

Отримати повний текст

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD за авторством Vuichyk, M.V., Tsybrii, Z.F., Lavoryk, S.R., Svezhentsova, K.V., Virt, I.S., Chizhov, A.

Отримати повний текст

Optical properties of AlN/n-Si(111) films obtained by method of HF reactive magnetron sputtering за авторством Zayats, M.S., Boiko, V.G., Gentsar, P.O., Vuichyk, M.V., Lytvyn, O.S., Stronski, A.V.

Отримати повний текст

Дискретні фотоприймачі середньохвильового ІЧ-діапазону спектру на основі HgCdTe за авторством Tsybrii, Z. F., Andreeva, K. V., Apatska, M. V., Bunchuk, S. G., Vuichyk, M. V., Golenkov, O. G., Dmytruk, N. V., Zabudsky, V. V., Lysiuk, I. O., Svezhentsova, K. V., Smolii, M. I., Sizov, F. F.

Отримати повний текст