Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.

Volltext

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.

Volltext

Infrared spectroscopy and electroreflectance in the region of fundamental optical transition E₀ of heavily doped n-GaAs (100) von Gentsar, P.O., Vlasenko, O.I., Vuichyk, M.V., Stronski, O.V.

Volltext

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD von Vuichyk, M.V., Tsybrii, Z.F., Lavoryk, S.R., Svezhentsova, K.V., Virt, I.S., Chizhov, A.

Volltext

Optical properties of AlN/n-Si(111) films obtained by method of HF reactive magnetron sputtering von Zayats, M.S., Boiko, V.G., Gentsar, P.O., Vuichyk, M.V., Lytvyn, O.S., Stronski, A.V.

Volltext

Дискретні фотоприймачі середньохвильового ІЧ-діапазону спектру на основі HgCdTe von Tsybrii, Z. F., Andreeva, K. V., Apatska, M. V., Bunchuk, S. G., Vuichyk, M. V., Golenkov, O. G., Dmytruk, N. V., Zabudsky, V. V., Lysiuk, I. O., Svezhentsova, K. V., Smolii, M. I., Sizov, F. F.

Volltext