Харвестер відкритої науки НАН України

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry

von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2006)

Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate

von Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)

Infrared spectroscopy and electroreflectance in the region of fundamental optical transition E₀ of heavily doped n-GaAs (100)

von Gentsar, P.O., Vlasenko, O.I., Vuichyk, M.V., Stronski, O.V.
Veröffentlicht in Functional Materials (2009)

Optical properties of AlN/n-Si(111) films obtained by method of HF reactive magnetron sputtering

von Zayats, M.S., Boiko, V.G., Gentsar, P.O., Vuichyk, M.V., Lytvyn, O.S., Stronski, A.V.
Veröffentlicht in Functional Materials (2010)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD

von Vuichyk, M.V., Tsybrii, Z.F., Lavoryk, S.R., Svezhentsova, K.V., Virt, I.S., Chizhov, A.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2014)

Дискретні фотоприймачі середньохвильового ІЧ-діапазону спектру на основі HgCdTe

von Tsybrii, Z. F., Andreeva, K. V., Apatska, M. V., Bunchuk, S. G., Vuichyk, M. V., Golenkov, O. G., Dmytruk, N. V., Zabudsky, V. V., Lysiuk, I. O., Svezhentsova, K. V., Smolii, M. I., Sizov, F. F.
Veröffentlicht 2017