Результати пошуку - Yukhymchuk, V.
- Показ 1 - 20 результатів із 40
- На наступну сторінку
-
1
YUKHYMCHUK VOLODYMYR DANYLOVYCH за авторством Yukhymchuk, V. D.
Опубліковано 2013
Отримати повний текст
Стаття -
2
Drift correction of the analyzed area during the study of the lateral elemental composition distribution in single semiconductor nanostructures by scanning Auger microscopy за авторством Ponomaryov, S.S., Yukhymchuk, V.O., Valakh, M.Ya.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2016)Отримати повний текст
Стаття -
3
Optical investigations of thermostimulated changes in an ensemble of CdSxSe₁₋x quantum dots embedded into borosilicate glass matrix за авторством Kunets, V.P., Yukhymchuk, V.O., Valakh, M.Ya.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2001)Отримати повний текст
Стаття -
4
Simple method for SiC nanowires fabrication за авторством Kiselov, V.S., Lytvyn, O.S., Yukhymchuk, V.O., Belyaev, A.E.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Отримати повний текст
Стаття -
5
Role of silicon oxide defects in emission process of Si-SiO₂ systems за авторством Baran, M., Bulakh, B., Korsunska, N., Khomenkova, L., Yukhymchuk, V., Sheinkman, M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)Отримати повний текст
Стаття -
6
-
7
-
8
Комбiнацiйне розсiювання свiтла в надґратках з Ge квантовими точками за авторством Romanyuk, Yu. A., Yaremko, A. M., Dzhagan, V. M., Yukhymchuk, V. O.
Опубліковано 2019
Отримати повний текст
Стаття -
9
Structural properties of nanocomposite SiO₂(Si) films obtained by ion-plasma sputtering and thermal annealing за авторством Bratus, O.L., Evtukh, A.A., Lytvyn, O.S., Voitovych, M.V., Yukhymchuk, V.О.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Отримати повний текст
Стаття -
10
-
11
Synthesis, morphological and structural properties of bio-SiC ceramics за авторством Yukhymchuk, V.O., Kiselev, V.S., Belyaev, A.E., Chursanova, M.V., Danailov, M., Valakh, M.Ya.
Опубліковано в: Functional Materials (2010)Отримати повний текст
Стаття -
12
Efficient core-SiO₂/shell-Au nanostructures for surface enhanced Raman scattering за авторством Yukhymchuk, V.O., Hreshchuk, O.M., Valakh, M.Ya., Skoryk, M.A., Efanov, V.S., Matveevskaya, N.A.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2014)Отримати повний текст
Стаття -
13
-
14
Obtaining and optical properties of the glasses of the GeS₂–HgS system за авторством Nechyporuk, B.D., Olekseyuk, I.D., Yukhymchuk, V.O., Filonenko, V.V., Mazurets, I.I., Parasyuk, O.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2007)Отримати повний текст
Стаття -
15
-
16
Effect of Si infiltration method on the properties of biomorphous SiC за авторством Kiselov, V.S., Kalabukhova, E.N., Sitnikov, A.A., Lytvyn, P.M., Poludin, V.I., Yukhymchuk, V.O., Belyaev, A.E.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2009)Отримати повний текст
Стаття -
17
Мiкроструктура тонких композитних плiвок Si–Sn за авторством Neimash, V. B., Poroshin, V. M., Kabaldin, A. M., Yukhymchuk, V. O., Shepelyavyi, P. E., Makara, V. A., Larkin, S. Yu.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
18
Вплив телуру на деградацiйну стiйкiсть кристалiв напiвiзолюючого арсенiду галiю за авторством Klyui, N. I., Liptuga, A. I., Lozinskii, V. B., Oksanich, A. P., Pritchin, S. E., Fomovskii, F. V., Yukhymchuk, V. O.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
19
Tin doping effect on crystallization of amorphous silicon obtained by vapor deposition in vacuum за авторством Neimash, V.B., Poroshin, V.M., Shepeliavyi, P.Ye., Yukhymchuk, V.O., Melnyk, V.V., Makara, M.A., Kuzmich, A.G.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2013)Отримати повний текст
Стаття -
20
Investigation of electron-phonon interaction in bulk and nanostructured semiconductors за авторством Yaremko, A.M., Yukhymchuk, V.O., Dzhagan, V.M., Valakh, M.Ya., Azhniuk, Yu.M., Baran, J., Ratajczak, H., Drozd, M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2007)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Raman spectroscopy
-
Characterization and properties
раманiвська спектроскопiя
61.72.uj
73.40.Vz
78.30.Fs
81.07.Bc
81.40.Tv
AFM
Auger method
Czochralski technique
EPR sensitivity
EPR spectroscopy
Ga2S3–GeS2–Sb2S3 system
Green’s function
IR materials
IЧ матерiали
Microstructure of thin composite films
Optics
PACS 61.72.uf
PACS 78.30.Fs
R6G
Raman scattering
SERS
SERS substrates
SERS-пiдкладки
Semiconductor physics
Semicosemiconductors and dielectrics
Technology