Atomic force microscopy images of [Fe/I]n discontinious multilayers (I = SiO2, MgO, HfO2)
The atomic force microscopy was used to analyze the effect of the insulator matrix on the morphology of iron-insulator discontinuous multilayers [Fe/I]n/S (I = SiO2, HfO2, and MgO)
Збережено в:
| Дата: | 2026 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Data |
| Опубліковано: |
DataverseUA
2026
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://doi.org/10.48788/DVUA/FJ9M9G |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Open Data Repository of the National Academy of Sciences of Ukraine |