Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se
The results of experimental studies on recording of microrelief structures using a focused laser radiation with a wavelength of 405 nm to photoresist films of inorganic system Ge-Se have been presented. It is shown that the microrelief structures having depth of 100 nm can be obtained on the inorgan...
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
2013
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/103416 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Data Recording, Storage & Processing |
Репозитарії
Data Recording, Storage & Processing| id |
drspiprikievua-article-103416 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
drspiprikievua-article-1034162020-12-28T16:35:45Z Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se Оптическая запись микро- и наноразмерных рельефных структур на неорганических резистах Ge-Se Оптичний запис мікро- та нанорозмірних рельєфних структур на неорганічних резистах Ge-Se Indutny, I. Z. Kryuchyn, A. A. Borodin, Yu. A. Danko, V. A. Lukanyuk, M. V. Minko, V. I. Shepelyavyi, P. E. Gera, E. V. Rubish, V. M. неорганічний фоторезист оптичний запис мікрорельєфні структури неорганический фоторезист оптическая запись микрорелъефные структуры inorganic photo-resist optical recording micro-relief structure The results of experimental studies on recording of microrelief structures using a focused laser radiation with a wavelength of 405 nm to photoresist films of inorganic system Ge-Se have been presented. It is shown that the microrelief structures having depth of 100 nm can be obtained on the inorganic photoresists of GeSe3. Increase of the germanium content (when studied composition GeSe2) did not allow getting the microrelief structures with depth required for the manufacture of master disks used in the manufacturing of DVD and BD disks. The films with a high content of Se (GeSe8) are characterized by the presence of crystalline inclusions, and can not be applied for the microrelief structures for recording information on disks-originals. Tabl.: 2. Fig.: 4. Refs: 19 titles. Представлены результаты экспериментальных исследований по записи микрорелъефных структур сфокусированным лазерным излучением с длиной волны 405 нм на пленках неорганических фоторезистов системы Ge-Se. Показано, что микрорелъефные структуры глубиной 100 нм могут быть получены на неорганических фоторезистах состава GeSe3. Увеличение содержания германия (исследовался состав GeSe2) не позволяет получать микрорелъефные структуры с глубиной рельефа, необходимой для изготовления дисков-оригиналов, используемых в производстве DVD и BD компакт-дисков. Пленки с высоким со-держанием Se (GeSe8) характеризуются наличием кристаллических включений и не могут быть использованы для получения микрорелъефных структур при записи информации на диски-оригиналы. Представлено результати експериментальних досліджень по запису мікрорельєфних структур сфокусованим лазерним випромінюванням з довжиною хвилі 405 нм на плівках неорганічних фоторезистів системи Ge-Se. Показано, що мікрорельєфні структури глибиною 100 нм можуть бути отримані на неорганічних фоторезистах складу GeSe3. Збільшення вмісту германію (досліджувався склад GeSe2) не дозволяє отримувати мікрорельєфні структури з глибиною рельєфу, необхідною для виготовлення дисків-оригіналів, які використовуються у виробництві DVD і BD компакт-дисків. Плівки з високим вмістом Se (GeSe8) характеризуються наявністю кристалічних включень і не можуть бути використані для отримання мікрорельєфних структур при запису інформації на диски-оригінали. Табл.: 2. Іл.: 4. Бібліогр.: 19 найм. Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2013-12-08 Article Article application/pdf http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/103416 10.35681/1560-9189.2013.15.4.103416 Data Recording, Storage & Processing; Vol. 15 No. 4 (2013); 3–12 Регистрация, хранение и обработка данных; Том 15 № 4 (2013); 3–12 Реєстрація, зберігання і обробка даних; Том 15 № 4 (2013); 3–12 1560-9189 ru http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/103416/98552 Авторське право (c) 2013 Реєстрація, зберігання і обробка даних |
| institution |
Data Recording, Storage & Processing |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2020-12-28T16:35:45Z |
| collection |
OJS |
| language |
Russian |
| topic |
inorganic photo-resist optical recording micro-relief structure |
| spellingShingle |
inorganic photo-resist optical recording micro-relief structure Indutny, I. Z. Kryuchyn, A. A. Borodin, Yu. A. Danko, V. A. Lukanyuk, M. V. Minko, V. I. Shepelyavyi, P. E. Gera, E. V. Rubish, V. M. Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se |
| topic_facet |
неорганічний фоторезист оптичний запис мікрорельєфні структури неорганический фоторезист оптическая запись микрорелъефные структуры inorganic photo-resist optical recording micro-relief structure |
| format |
Article |
| author |
Indutny, I. Z. Kryuchyn, A. A. Borodin, Yu. A. Danko, V. A. Lukanyuk, M. V. Minko, V. I. Shepelyavyi, P. E. Gera, E. V. Rubish, V. M. |
| author_facet |
Indutny, I. Z. Kryuchyn, A. A. Borodin, Yu. A. Danko, V. A. Lukanyuk, M. V. Minko, V. I. Shepelyavyi, P. E. Gera, E. V. Rubish, V. M. |
| author_sort |
Indutny, I. Z. |
| title |
Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se |
| title_short |
Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se |
| title_full |
Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se |
| title_fullStr |
Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se |
| title_full_unstemmed |
Optical Recording of Micro- and Nano- Relief Structures on Inorganic Resists Ge-Se |
| title_sort |
optical recording of micro- and nano- relief structures on inorganic resists ge-se |
| title_alt |
Оптическая запись микро- и наноразмерных рельефных структур на неорганических резистах Ge-Se Оптичний запис мікро- та нанорозмірних рельєфних структур на неорганічних резистах Ge-Se |
| description |
The results of experimental studies on recording of microrelief structures using a focused laser radiation with a wavelength of 405 nm to photoresist films of inorganic system Ge-Se have been presented. It is shown that the microrelief structures having depth of 100 nm can be obtained on the inorganic photoresists of GeSe3. Increase of the germanium content (when studied composition GeSe2) did not allow getting the microrelief structures with depth required for the manufacture of master disks used in the manufacturing of DVD and BD disks. The films with a high content of Se (GeSe8) are characterized by the presence of crystalline inclusions, and can not be applied for the microrelief structures for recording information on disks-originals. Tabl.: 2. Fig.: 4. Refs: 19 titles. |
| publisher |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
| publishDate |
2013 |
| url |
http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/103416 |
| work_keys_str_mv |
AT indutnyiz opticalrecordingofmicroandnanoreliefstructuresoninorganicresistsgese AT kryuchynaa opticalrecordingofmicroandnanoreliefstructuresoninorganicresistsgese AT borodinyua opticalrecordingofmicroandnanoreliefstructuresoninorganicresistsgese AT dankova opticalrecordingofmicroandnanoreliefstructuresoninorganicresistsgese AT lukanyukmv opticalrecordingofmicroandnanoreliefstructuresoninorganicresistsgese AT minkovi opticalrecordingofmicroandnanoreliefstructuresoninorganicresistsgese AT shepelyavyipe opticalrecordingofmicroandnanoreliefstructuresoninorganicresistsgese AT geraev opticalrecordingofmicroandnanoreliefstructuresoninorganicresistsgese AT rubishvm opticalrecordingofmicroandnanoreliefstructuresoninorganicresistsgese AT indutnyiz optičeskaâzapisʹmikroinanorazmernyhrelʹefnyhstrukturnaneorganičeskihrezistahgese AT kryuchynaa optičeskaâzapisʹmikroinanorazmernyhrelʹefnyhstrukturnaneorganičeskihrezistahgese AT borodinyua optičeskaâzapisʹmikroinanorazmernyhrelʹefnyhstrukturnaneorganičeskihrezistahgese AT dankova optičeskaâzapisʹmikroinanorazmernyhrelʹefnyhstrukturnaneorganičeskihrezistahgese AT lukanyukmv optičeskaâzapisʹmikroinanorazmernyhrelʹefnyhstrukturnaneorganičeskihrezistahgese AT minkovi optičeskaâzapisʹmikroinanorazmernyhrelʹefnyhstrukturnaneorganičeskihrezistahgese AT shepelyavyipe optičeskaâzapisʹmikroinanorazmernyhrelʹefnyhstrukturnaneorganičeskihrezistahgese AT geraev optičeskaâzapisʹmikroinanorazmernyhrelʹefnyhstrukturnaneorganičeskihrezistahgese AT rubishvm optičeskaâzapisʹmikroinanorazmernyhrelʹefnyhstrukturnaneorganičeskihrezistahgese AT indutnyiz optičnijzapismíkrotananorozmírnihrelʹêfnihstrukturnaneorganíčnihrezistahgese AT kryuchynaa optičnijzapismíkrotananorozmírnihrelʹêfnihstrukturnaneorganíčnihrezistahgese AT borodinyua optičnijzapismíkrotananorozmírnihrelʹêfnihstrukturnaneorganíčnihrezistahgese AT dankova optičnijzapismíkrotananorozmírnihrelʹêfnihstrukturnaneorganíčnihrezistahgese AT lukanyukmv optičnijzapismíkrotananorozmírnihrelʹêfnihstrukturnaneorganíčnihrezistahgese AT minkovi optičnijzapismíkrotananorozmírnihrelʹêfnihstrukturnaneorganíčnihrezistahgese AT shepelyavyipe optičnijzapismíkrotananorozmírnihrelʹêfnihstrukturnaneorganíčnihrezistahgese AT geraev optičnijzapismíkrotananorozmírnihrelʹêfnihstrukturnaneorganíčnihrezistahgese AT rubishvm optičnijzapismíkrotananorozmírnihrelʹêfnihstrukturnaneorganíčnihrezistahgese |
| first_indexed |
2025-07-17T10:55:53Z |
| last_indexed |
2025-07-17T10:55:53Z |
| _version_ |
1850410971894382592 |