Investigation of growth conditions, crystal structure and surface morphology of SmS films fabricated by MOCVD technique

• Дата: 1999
• Автори: Volodin, N.M., Zavyalova, L.V., Kirillov, A.I., Svechnikov, S.V., Prokopenko, I.V., Khanova, A.V.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1999
• Назва видання: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119064
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Investigation of growth conditions, crystal structure and surface morphology of SmS films fabricated by MOCVD technique / N.M. Volodin, L.V. Zavyalova, A.I. Kirillov, S.V. Svechnikov, I.V. Prokopenko, A.V. Khanova // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1999. — Т. 2, № 2. — С. 78-83. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

The polycrystalline SmS films were fabricated by MOCVD technique using a number of ditiocarbamates, synthesized by different techniques. The growth kinetics and temperature dependencies of the film growth rate are investigated, which allowed us to determine the activation energies and the reaction t...