Peculiarities and asymmetry of polarization reversal in Pt/PZT-film/Pt:Ti/SiO₂/Si-substrate structures in pyroelectric response investigations

By RF magnetron sputtering method the Pt/PZT-film/Pt:Ti-sublayer/SiO₂/Si-substrate structures were prepared and pyroelectric response amplitude and phase behaviour under external voltage application was investigated by photopyroelectric modulation method. The results of investigation of pyroelectri...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2004
Автори: Bravina, S.L., Cattan, E., Morozovsky, N.V., Remiens, D.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2004
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119121
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Peculiarities and asymmetry of polarization reversal in Pt/PZT-film/Pt:Ti/SiO₂/Si-substrate structures in pyroelectric response investigations / S.L. Bravina, E. Cattan, N.V. Morozovsky, D. Remiens // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2004. — Т. 7, № 3. — С. 263-271. — Бібліогр.: 27 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine