Optical properties of thin metal films
Optical constants of metallic thin films made from: Ag, Au, Hf, Ir, Mo, Nb, Os, Pd, Pt, Re, Rh, Ru, Ta, W, Zr were determined on the basis of measured index of refraction in region of wavelength λ = 241216 Å. Two types of relations were used for the calculation. Some of them were obtained, with tak...
Збережено в:
| Дата: | 1999 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1999
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119882 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Optical properties of thin metal films / S.A. Kovalenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1999. — Т. 2, № 3. — С. 13-20. — Бібліогр.: 25 назв. — англ. |