Self-heating effects in AlGaN/GaN HEMT heterostructures: Electrical and optical characterization

The effect of self-heating on the transport characteristics and electronic properties of transistor AlGaN/GaN heterostructures was investigated. The electrical, micro-Raman and photoluminescence techniques were used for temperature estimations for transistor structures under electrical load. The the...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Naumov, A.V., Kolomys, O.F., Romanyuk, A.S., Tsykaniuk, B.I., Strelchuk, V.V., Trius, M.P., Avksentyev, A.Yu., Belyaev, A.E.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121254
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Self-heating effects in AlGaN/GaN HEMT heterostructures: Electrical and optical characterization / A.V. Naumov, O.F. Kolomys, A.S. Romanyuk, B.I. Tsykaniuk, V.V. Strelchuk, M.P. Trius, A.Yu. Avksentyev, A.E. Belyaev // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2015. — Т. 18, № 4. — С. 396-402. — Бібліогр.: 19 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine