Characterization of grain boundaries in CdTe polycrystalline films

CdTe polycrystalline films with the average size of grains within the range 10…360 μm were grown on sapphire substrates by using the modified close-spaced sublimation technique. Transverse (across the film) and lateral (along the film’s surface) conductivity as a function of bias voltage and tempera...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: Tetyorkin, V.V., Sukach, A.V., Boiko, V.A., Tkachuk, A.I.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121269
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Characterization of grain boundaries in CdTe polycrystalline films / V.V. Tetyorkin, A.V. Sukach, V.A. Boiko, A.I. Tkachuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2015. — Т. 18, № 4. — С. 428-432. — Бібліогр.: 31 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine