Degradation processes in LED modules
Electrical-heat-light degradation model of a light-emitting module has been developed in this work. The Monte-Carlo method was used to calculate the reliability time of LED modules with different halfwidth of LED chip series resistance. Separation of LED chips with different series resistance before...
Збережено в:
| Дата: | 2016 |
|---|---|
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2016
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121585 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Degradation processes in LED modules / V.M. Sorokin, Ya.Ya. Kudryk, V.V. Shynkarenko, R.Ya. Kudryk, P.O. Sai // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2016. — Т. 19, № 3. — С. 248-254. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. |