The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy

• Видавець: Інститут прикладної математики і механіки НАН України
• Дата: 2012
• Автори: Skobtsov, V.Y., Rakhman, Al Tal Abdel
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Інститут прикладної математики і механіки НАН України 2012
• Назва видання: Труды Института прикладной математики и механики
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/124131
• Цитувати: The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.

The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not...