The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy
The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not...
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут прикладної математики і механіки НАН України
2012
|
| Назва видання: | Труды Института прикладной математики и механики |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/124131 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-124131 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1241312017-09-21T03:03:11Z The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy Skobtsov, V.Y. Rakhman, Al Tal Abdel The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not detected with traditional methods. It increases the fault coverage. Для цифровых схем с памятью разработан метод построения тестов на основе различения пар состояний исправного и неисправного устройств. Применяется стратегия кратного наблюдения, 16-значный алфавит и генетические алгоритмы. Предложенный метод позволяет покрыть неисправности, являющиеся нетестируемыми традиционными методами. Это существенно повышает покрытие неисправностей. Для цифрових схем з пам’яттю розроблено метод побудови тестiв на базi розрiзнення пар станiв непошкодженого та пошкодженого пристроїв. Застосовано стратегiю кратного спостереження, 16-значний алфавiт та генетичнi алгоритми. Запропонований метод дозволяє покрити пошкодження, якi є нетестовними традицiйними методами. Це суттєво пiдвищує покриття пошкоджень. 2012 Article The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ. 1683-4720 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/124131 681.518:681.326.7 en Труды Института прикладной математики и механики Інститут прикладної математики і механіки НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| description |
The test generation method is designed for digital circuits with memory on the basis of distinguishing state pairs of good and fault devices. The multiple observation time test strategy, 16-valued alphabet and genetic algorithms are used. The proposed method permits to cover the faults that are not detected with traditional methods. It increases the fault coverage. |
| format |
Article |
| author |
Skobtsov, V.Y. Rakhman, Al Tal Abdel |
| spellingShingle |
Skobtsov, V.Y. Rakhman, Al Tal Abdel The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy Труды Института прикладной математики и механики |
| author_facet |
Skobtsov, V.Y. Rakhman, Al Tal Abdel |
| author_sort |
Skobtsov, V.Y. |
| title |
The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_short |
The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_full |
The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_fullStr |
The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_full_unstemmed |
The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| title_sort |
test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy |
| publisher |
Інститут прикладної математики і механіки НАН України |
| publishDate |
2012 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/124131 |
| citation_txt |
The test generation of digital sequential circuits with the multiple observation time strategy / V.Y. Skobtsov, Al Tal Abdel Rakhman // Труды Института прикладной математики и механики НАН Украины. — Донецьк: ІПММ НАН України, 2012. — Т. 25. — С. 210-216. — Бібліогр.: 3 назв. — англ. |
| series |
Труды Института прикладной математики и механики |
| work_keys_str_mv |
AT skobtsovvy thetestgenerationofdigitalsequentialcircuitswiththemultipleobservationtimestrategy AT rakhmanaltalabdel thetestgenerationofdigitalsequentialcircuitswiththemultipleobservationtimestrategy AT skobtsovvy testgenerationofdigitalsequentialcircuitswiththemultipleobservationtimestrategy AT rakhmanaltalabdel testgenerationofdigitalsequentialcircuitswiththemultipleobservationtimestrategy |
| first_indexed |
2023-10-18T20:45:44Z |
| last_indexed |
2023-10-18T20:45:44Z |
| _version_ |
1796151042539257856 |