Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием
Рассмотрены структурные особенности нанокристаллической HFCVD алмазной пленки и построена физико-математическая модель атомной структуры ее поверхности. Пленку исследовали на воздухе на сканирующем туннельном микроскопе, оснащенном острием из полупроводникового монокристалла алмаза, легированного бо...
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2012
|
| Назва видання: | Сверхтвердые материалы |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/125991 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием / М.А. Цысарь // Сверхтвердые материалы. — 2012. — № 4. — С. 56-66. — Бібліогр.: 27 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-125991 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1259912017-11-12T03:03:06Z Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием Цысарь, М.А. Получение, структура, свойства Рассмотрены структурные особенности нанокристаллической HFCVD алмазной пленки и построена физико-математическая модель атомной структуры ее поверхности. Пленку исследовали на воздухе на сканирующем туннельном микроскопе, оснащенном острием из полупроводникового монокристалла алмаза, легированного бором. Фрактальный анализ СТМ-изображений поверхности пленки показал наличие монокристаллов алмаза различной ориентации со средним размером 31 нм с фрактальной размерностью 2,36 и 2,73. Розглянуто особливості структури і властивостей нанокристалічних HF-CVD алмазної плівки та побудовано фізико-математичну модель атомної будови її поверхні. Плівку досліджували на повітрі методом сканівної тунельної мікроскопії з вістрям з напівпровідникового монокристалу алмазу, легованого бором. Фрактальний аналіз СТМ-зображень показав наявність монокристалів алмазу різної орієнтації з середнім розміром 31 нм з фрактальною розмірністю 2,36 і 2,73. Structural features of HFCVD nanocrystalline diamond films have been considered and a physicomathematical model of the atomic structure of its surface has been constructed. The film has been studied in air using a scanning tunneling microscope with a tip of a boron-doped semiconducting diamond single crystal. Fractal analysis of images of the film surface from scanning tunneling microscope has shown the presence of diamond single crystals of different orientations having a mean size of 31 nm with a fractal dimensionality of 2.36 and 2.73. 2012 Article Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием / М.А. Цысарь // Сверхтвердые материалы. — 2012. — № 4. — С. 56-66. — Бібліогр.: 27 назв. — рос. 0203-3119 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/125991 691.327:666.973.6 ru Сверхтвердые материалы Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Получение, структура, свойства Получение, структура, свойства |
| spellingShingle |
Получение, структура, свойства Получение, структура, свойства Цысарь, М.А. Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием Сверхтвердые материалы |
| description |
Рассмотрены структурные особенности нанокристаллической HFCVD алмазной пленки и построена физико-математическая модель атомной структуры ее поверхности. Пленку исследовали на воздухе на сканирующем туннельном микроскопе, оснащенном острием из полупроводникового монокристалла алмаза, легированного бором. Фрактальный анализ СТМ-изображений поверхности пленки показал наличие монокристаллов алмаза различной ориентации со средним размером 31 нм с фрактальной размерностью 2,36 и 2,73. |
| format |
Article |
| author |
Цысарь, М.А. |
| author_facet |
Цысарь, М.А. |
| author_sort |
Цысарь, М.А. |
| title |
Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием |
| title_short |
Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием |
| title_full |
Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием |
| title_fullStr |
Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием |
| title_full_unstemmed |
Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием |
| title_sort |
исследование топологических особенностей поверхности hfcvd нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием |
| publisher |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України |
| publishDate |
2012 |
| topic_facet |
Получение, структура, свойства |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/125991 |
| citation_txt |
Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием / М.А. Цысарь // Сверхтвердые материалы. — 2012. — № 4. — С. 56-66. — Бібліогр.: 27 назв. — рос. |
| series |
Сверхтвердые материалы |
| work_keys_str_mv |
AT cysarʹma issledovanietopologičeskihosobennostejpoverhnostihfcvdnanokristalličeskojalmaznojplenkiskaniruûŝimtunnelʹnymmikroskopomsalmaznymostriem |
| first_indexed |
2023-10-18T20:49:50Z |
| last_indexed |
2023-10-18T20:49:50Z |
| _version_ |
1796151218525962240 |