Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss

• Дата: 2017
• Автори: Deiev, O.S., Kiprich, S.K., Vasilyev, G.P., Yalovenko, V.I., Ovchinnik, V.D., Shulika, M.Y.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2017
• Назва видання: Вопросы атомной науки и техники
• Теми: Ядерно-физические методы и обработка данных
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136099
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss / O.S. Deiev, S.K. Kiprich, G.P. Vasilyev, V.I. Yalovenko, V.D. Ovchinnik, M.Y. Shulika // Физика низких температур. — 2017. — № 3. — С. 45-49. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.

An experimental method of determining the active region thickness of Si planar detector was used. The method based on the dependence the depletion layer thickness from voltage applied to the detector (U = 0...60 V ). The electron energy loss spectra emitted by ⁹⁰Sr -⁹⁰Y in silicon planar detector we...