Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss
An experimental method of determining the active region thickness of Si planar detector was used. The method based on the dependence the depletion layer thickness from voltage applied to the detector (U = 0...60 V ). The electron energy loss spectra emitted by ⁹⁰Sr -⁹⁰Y in silicon planar detector we...
Збережено в:
| Дата: | 2017 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2017
|
| Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136099 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss / O.S. Deiev, S.K. Kiprich, G.P. Vasilyev, V.I. Yalovenko, V.D. Ovchinnik, M.Y. Shulika // Физика низких температур. — 2017. — № 3. — С. 45-49. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-136099 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1360992020-11-18T10:45:43Z Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss Deiev, O.S. Kiprich, S.K. Vasilyev, G.P. Yalovenko, V.I. Ovchinnik, V.D. Shulika, M.Y. Ядерно-физические методы и обработка данных An experimental method of determining the active region thickness of Si planar detector was used. The method based on the dependence the depletion layer thickness from voltage applied to the detector (U = 0...60 V ). The electron energy loss spectra emitted by ⁹⁰Sr -⁹⁰Y in silicon planar detector were measured. The relative values of most probable energy loss of electrons were de ned for different thickness of detector. The planar detector was considered as a parallel-plate capacitor. The static (capacity) and dynamic (the detection efficiency and the energy deposit) characteristics had a root dependence on voltage. Використовувався експериментальний метод визначення товщини активної області Si-планарного детектора. Метод заснований на залежності товщини збідненого шару від напруги, прикладеної до детектора (0...60 В). Вимірювалися спектри втрат енергії електронів, що випускаються ⁹⁰Sr -⁹⁰Y в кремнієвому планарному детекторі. Були визначені відносні значення найбільш ймовірних втрат енергії електронів для різної товщини детектора. Плоский детектор розглядався як конденсатор з паралельними пластинами. Статична (ємність) і динамічна (ефективність реєстрації та енергетичні втрати) характеристики мають кореневу залежністю від напруги. Использовался экспериментальный метод определения толщины активной области Si-планарного детектора. Метод основан на зависимости толщины обедненного слоя от напряжения, приложенного к детектору (0...60 В). Измерялись спектры потерь энергии электронов, испускаемые ⁹⁰Sr -⁹⁰Y в кремниевом планарном детекторе. Были определены относительные значения наиболее вероятных потерь энергии электронов для различной толщины детектора. Плоский детектор рассматривался как конденсатор с параллельными пластинами. Статическая (емкость) и динамическая (эффективность регистрации и энергетические потери) характеристики имеют корневую зависимостью от напряжения. 2017 Article Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss / O.S. Deiev, S.K. Kiprich, G.P. Vasilyev, V.I. Yalovenko, V.D. Ovchinnik, M.Y. Shulika // Физика низких температур. — 2017. — № 3. — С. 45-49. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 07.85.Fv, 61.80.Cb http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136099 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| topic |
Ядерно-физические методы и обработка данных Ядерно-физические методы и обработка данных |
| spellingShingle |
Ядерно-физические методы и обработка данных Ядерно-физические методы и обработка данных Deiev, O.S. Kiprich, S.K. Vasilyev, G.P. Yalovenko, V.I. Ovchinnik, V.D. Shulika, M.Y. Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss Вопросы атомной науки и техники |
| description |
An experimental method of determining the active region thickness of Si planar detector was used. The method based on the dependence the depletion layer thickness from voltage applied to the detector (U = 0...60 V ). The electron energy loss spectra emitted by ⁹⁰Sr -⁹⁰Y in silicon planar detector were measured. The relative values of most probable energy loss of electrons were de ned for different thickness of detector. The planar detector was considered as a parallel-plate capacitor. The static (capacity) and dynamic (the detection efficiency and the energy deposit) characteristics had a root dependence on voltage. |
| format |
Article |
| author |
Deiev, O.S. Kiprich, S.K. Vasilyev, G.P. Yalovenko, V.I. Ovchinnik, V.D. Shulika, M.Y. |
| author_facet |
Deiev, O.S. Kiprich, S.K. Vasilyev, G.P. Yalovenko, V.I. Ovchinnik, V.D. Shulika, M.Y. |
| author_sort |
Deiev, O.S. |
| title |
Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss |
| title_short |
Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss |
| title_full |
Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss |
| title_fullStr |
Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss |
| title_full_unstemmed |
Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss |
| title_sort |
effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| publishDate |
2017 |
| topic_facet |
Ядерно-физические методы и обработка данных |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136099 |
| citation_txt |
Effective thickness of the planar detector in measurements of electrons energy loss / O.S. Deiev, S.K. Kiprich, G.P. Vasilyev, V.I. Yalovenko, V.D. Ovchinnik, M.Y. Shulika // Физика низких температур. — 2017. — № 3. — С. 45-49. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. |
| series |
Вопросы атомной науки и техники |
| work_keys_str_mv |
AT deievos effectivethicknessoftheplanardetectorinmeasurementsofelectronsenergyloss AT kiprichsk effectivethicknessoftheplanardetectorinmeasurementsofelectronsenergyloss AT vasilyevgp effectivethicknessoftheplanardetectorinmeasurementsofelectronsenergyloss AT yalovenkovi effectivethicknessoftheplanardetectorinmeasurementsofelectronsenergyloss AT ovchinnikvd effectivethicknessoftheplanardetectorinmeasurementsofelectronsenergyloss AT shulikamy effectivethicknessoftheplanardetectorinmeasurementsofelectronsenergyloss |
| first_indexed |
2023-10-18T21:08:46Z |
| last_indexed |
2023-10-18T21:08:46Z |
| _version_ |
1796152038102401024 |