Study of nanostructured layers of single-crystal silicon by scanning tunnel spectroscopy

The nanostructured silicon surface has been studied using the scanning tunnel microscopy and spectroscopy in air. The local density of electron states was defined as normalized differential tunnel conductivity (dI/dU)(I/U). The surface morphology has been found to be characterized by the presence of...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2008
Автори: Kulyk, S.P., Melnichenko, M.M., Svezhentsova, K.V., Shmyryova, O.M.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2008
Назва видання:Functional Materials
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/137225
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Study of nanostructured layers of single-crystal silicon by scanning tunnel spectroscopy / S.P. Kulyk, M.M. Melnichenko, K.V. Svezhentsova, O.M. Shmyryova // Functional Materials. — 2008. — Т. 15, № 1. — С. 74-77. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine