Модуляционная поляриметрия полного внутреннего отражения, нарушенного алмазоподобными пленками

Исследованы алмазоподобные пленки, специально приготовленные при различных технологических условиях. Введен параметр ρ, называемый поляризационной разностью. Из спектральных характеристик параметра ρ обнаружено, что взаимодействие электромагнитного излучения с электронной системой образцов, которое...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2013
Автори: Максименко, Л.С., Мищук, О.Н., Матяш, И.Е., Сердега, Б.К., Костин, Е.Г., Полозов, Б.П., Федорович, О.А., Савинков, Г.К.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2013
Назва видання:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51734
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Модуляционная поляриметрия полного внутреннего отражения, нарушенного алмазоподобными пленками / Л.С. Максименко, О.Н. Мищу, И.Е. Матяш, Б.К. Сердега, Е.Г. Костин, Б.П. Полозов, О.А. Федорович, Г.К. Савинков // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2013. — № 1. — С. 3-8. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine