Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors
The paper reports the results from studies into the effect of temperature on the performance characteristics of planar silicon detectors designed and manufactured at the NSC KIPT. A variety of techniques are demonstrated for measuring the temperature effect on various static and spectral character...
Збережено в:
| Дата: | 2006 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2006
|
| Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/79871 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors / G.P. Vasiliyev, A.V. Kosinov, V.I. Kulibaba, N.I. Maslov, S.V. Naumov, V.D. Ovchinnik, V.I. Yalovenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 3. — С. 137-139. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-79871 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-798712015-04-07T03:02:01Z Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors Vasiliyev, G.P. Kosinov, A.V. Kulibaba, V.I. Maslov, N.I. Naumov, S.V. Ovchinnik, V.D. Yalovenko, V.I. Применение ускорителей в радиационных технологиях The paper reports the results from studies into the effect of temperature on the performance characteristics of planar silicon detectors designed and manufactured at the NSC KIPT. A variety of techniques are demonstrated for measuring the temperature effect on various static and spectral characteristics of single-channel planar detectors. The relationship between the static characteristics of detectors and their long-term stability and lifetime is considered. Приведены результаты исследования воздействия температуры на характеристики планарных кремниевых детекторов, спроектированных и изготовленных в ННЦ ХФТИ. Показан ряд методик, позволяющих проводить измерения влияния температуры на различные статические и спектральные характеристики одноканальных планарных детекторов. Рассматривается связь статических характеристик детекторов с долговременной стабильностью и временем жизни детекторов. Приведені результати досліджень впливу температури на характеристики пласких кремнієвих детекторів, спроектованих та виготовлених у ННЦ ХФТІ. Продемонстровано ряд методик, які дозволяють проводити вимірювання впливу температури на різні статичні та спектральні характеристики одноканальних пласких детекторів. Розглянуто зв’язок статичних характеристик детекторів з довгостроковою стабільністю та часом життя детекторів. 2006 Article Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors / G.P. Vasiliyev, A.V. Kosinov, V.I. Kulibaba, N.I. Maslov, S.V. Naumov, V.D. Ovchinnik, V.I. Yalovenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 3. — С. 137-139. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 29.40.Wk http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/79871 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| topic |
Применение ускорителей в радиационных технологиях Применение ускорителей в радиационных технологиях |
| spellingShingle |
Применение ускорителей в радиационных технологиях Применение ускорителей в радиационных технологиях Vasiliyev, G.P. Kosinov, A.V. Kulibaba, V.I. Maslov, N.I. Naumov, S.V. Ovchinnik, V.D. Yalovenko, V.I. Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors Вопросы атомной науки и техники |
| description |
The paper reports the results from studies into the effect of temperature on the performance characteristics of planar
silicon detectors designed and manufactured at the NSC KIPT. A variety of techniques are demonstrated for
measuring the temperature effect on various static and spectral characteristics of single-channel planar detectors. The
relationship between the static characteristics of detectors and their long-term stability and lifetime is considered. |
| format |
Article |
| author |
Vasiliyev, G.P. Kosinov, A.V. Kulibaba, V.I. Maslov, N.I. Naumov, S.V. Ovchinnik, V.D. Yalovenko, V.I. |
| author_facet |
Vasiliyev, G.P. Kosinov, A.V. Kulibaba, V.I. Maslov, N.I. Naumov, S.V. Ovchinnik, V.D. Yalovenko, V.I. |
| author_sort |
Vasiliyev, G.P. |
| title |
Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors |
| title_short |
Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors |
| title_full |
Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors |
| title_fullStr |
Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors |
| title_full_unstemmed |
Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors |
| title_sort |
temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors |
| publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України |
| publishDate |
2006 |
| topic_facet |
Применение ускорителей в радиационных технологиях |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/79871 |
| citation_txt |
Temperature effect on the characteristics and lifetime of semiconductor detectors / G.P. Vasiliyev, A.V. Kosinov, V.I. Kulibaba, N.I. Maslov, S.V. Naumov, V.D. Ovchinnik,
V.I. Yalovenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 3. — С. 137-139. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. |
| series |
Вопросы атомной науки и техники |
| work_keys_str_mv |
AT vasiliyevgp temperatureeffectonthecharacteristicsandlifetimeofsemiconductordetectors AT kosinovav temperatureeffectonthecharacteristicsandlifetimeofsemiconductordetectors AT kulibabavi temperatureeffectonthecharacteristicsandlifetimeofsemiconductordetectors AT maslovni temperatureeffectonthecharacteristicsandlifetimeofsemiconductordetectors AT naumovsv temperatureeffectonthecharacteristicsandlifetimeofsemiconductordetectors AT ovchinnikvd temperatureeffectonthecharacteristicsandlifetimeofsemiconductordetectors AT yalovenkovi temperatureeffectonthecharacteristicsandlifetimeofsemiconductordetectors |
| first_indexed |
2023-10-18T19:19:41Z |
| last_indexed |
2023-10-18T19:19:41Z |
| _version_ |
1796146616354209792 |