Дифракційний контроль мікрорельєфу оптичних дисків
Досліджено дифракційні характеристики мікрорельєфу оптичних дисків з різним профілем пітів. Отримано калібрувальні криві дифракції для поляризованого лазерного випромінювання з метою визначення оптичних параметрів мікрорельєфу дисків. Розраховано дифракційні властивості багатошарових дискових структ...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Реєстрація, зберігання і обробка даних |
|---|---|
| Datum: | 2016 |
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
2016
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/131617 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Дифракційний контроль мікрорельєфу оптичних дисків / Є.Є. Антонов, О.В. Шиховець // Реєстрація, зберігання і обробка даних. — 2016. — Т. 18, № 3. — С. 39-53. — Бібліогр.: 10 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Досліджено дифракційні характеристики мікрорельєфу оптичних дисків з різним профілем пітів. Отримано калібрувальні криві дифракції для поляризованого лазерного випромінювання з метою визначення оптичних параметрів мікрорельєфу дисків. Розраховано дифракційні властивості багатошарових дискових структур, у тому числі з металізованими поверхнями.
Исследованы дифракционные характеристики микрорельефа оптических дисков с различным профилем питов. Получены калибровочные кривые дифракции для поляризованного лазерного излучения с целью определения оптических параметров микрорельефа. Рассчитаны дифракционные свойства многослойных дисковых структур, в том числе с металлизированными поверхностями.
Microrelief diffraction characteristics of optical discs with different profile of pits are studied. Calibration diffraction curves for polarized laser light are obtained for the determination of the optical parameters of microrelief. Diffraction properties of multilayer disk structures are calculated, including metalized disc surfaces.
|
|---|---|
| ISSN: | 1560-9189 |