Дифракційний контроль мікрорельєфу оптичних дисків

• Опубліковано в: : Реєстрація, зберігання і обробка даних
• Дата: 2016
• Автори: Антонов, Є.Є., Шиховець, О.В.
• Формат: Стаття
• Мова: Українська
• Опубліковано: Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2016
• Теми: Технічні засоби отримання і обробки даних
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/131617
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Дифракційний контроль мікрорельєфу оптичних дисків / Є.Є. Антонов, О.В. Шиховець // Реєстрація, зберігання і обробка даних. — 2016. — Т. 18, № 3. — С. 39-53. — Бібліогр.: 10 назв. — укр.

Досліджено дифракційні характеристики мікрорельєфу оптичних дисків з різним профілем пітів. Отримано калібрувальні криві дифракції для поляризованого лазерного випромінювання з метою визначення оптичних параметрів мікрорельєфу дисків. Розраховано дифракційні властивості багатошарових дискових структур, у тому числі з металізованими поверхнями. Исследованы дифракционные характеристики микрорельефа оптических дисков с различным профилем питов. Получены калибровочные кривые дифракции для поляризованного лазерного излучения с целью определения оптических параметров микрорельефа. Рассчитаны дифракционные свойства многослойных дисковых структур, в том числе с металлизированными поверхностями. Microrelief diffraction characteristics of optical discs with different profile of pits are studied. Calibration diffraction curves for polarized laser light are obtained for the determination of the optical parameters of microrelief. Diffraction properties of multilayer disk structures are calculated, including metalized disc surfaces.