Дифракційний контроль мікрорельєфу оптичних дисків

Досліджено дифракційні характеристики мікрорельєфу оптичних дисків з різним профілем пітів. Отримано калібрувальні криві дифракції для поляризованого лазерного випромінювання з метою визначення оптичних параметрів мікрорельєфу дисків. Розраховано дифракційні властивості багатошарових дискових структ...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Реєстрація, зберігання і обробка даних
Datum:2016
Hauptverfasser: Антонов, Є.Є., Шиховець, О.В.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2016
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/131617
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Дифракційний контроль мікрорельєфу оптичних дисків / Є.Є. Антонов, О.В. Шиховець // Реєстрація, зберігання і обробка даних. — 2016. — Т. 18, № 3. — С. 39-53. — Бібліогр.: 10 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Досліджено дифракційні характеристики мікрорельєфу оптичних дисків з різним профілем пітів. Отримано калібрувальні криві дифракції для поляризованого лазерного випромінювання з метою визначення оптичних параметрів мікрорельєфу дисків. Розраховано дифракційні властивості багатошарових дискових структур, у тому числі з металізованими поверхнями. Исследованы дифракционные характеристики микрорельефа оптических дисков с различным профилем питов. Получены калибровочные кривые дифракции для поляризованного лазерного излучения с целью определения оптических параметров микрорельефа. Рассчитаны дифракционные свойства многослойных дисковых структур, в том числе с металлизированными поверхностями. Microrelief diffraction characteristics of optical discs with different profile of pits are studied. Calibration diffraction curves for polarized laser light are obtained for the determination of the optical parameters of microrelief. Diffraction properties of multilayer disk structures are calculated, including metalized disc surfaces.
ISSN:1560-9189