Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
The feasibility of using infrared radiation from semiconductors for rapid diagnostics of the quality of semiconductor diode crystals is demonstrated. A method has been developed to separate the recombination and thermal components of the radiation emitted by a heated diode crystal. The possibility o...
Збережено в:
| Дата: | 2004 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2004
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2004.3.62 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Technology and design in electronic equipment |