Buchumschlag

Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении γ-квантами

Previously undescribed structural microdefects arising in semiconductor films under gamma irradiation have been identified. It is shown that the cause of changes in the optical properties of such films is related to micro‑inhomogeneities and elastic fields around them. Experimental studies of radiat...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2003
Hauptverfasser: Khramov, E. F., Prokhorov, G. V., Pelikhaty, N. M., Hnap, A. K.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainisch
Veröffentlicht: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2003
Schlagworte:
взрывная кристаллизация
тонкие пленки
полупроводники
γ‑кванты
структурные микродефекты
радиационное дефектообразование
твердотельная электроника
Online Zugang:https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2003.2.58
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Technology and design in electronic equipment
Завантажити файл: Pdf

Institution

Technology and design in electronic equipment

Online

https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2003.2.58

Ähnliche Einträge