Взрывная кристаллизация тонких пленок полупроводников при облучении γ-квантами

• Дата: 2003
• Автори: Khramov, E. F., Prokhorov, G. V., Pelikhaty, N. M., Hnap, A. K.
• Формат: Стаття
• Мова: Українська
• Опубліковано: PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers 2003
• Теми: взрывная кристаллизация; тонкие пленки; полупроводники; γ‑кванты; структурные микродефекты; радиационное дефектообразование; твердотельная электроника
• Онлайн доступ: https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2003.2.58
• Назва журналу: Technology and design in electronic equipment

Previously undescribed structural microdefects arising in semiconductor films under gamma irradiation have been identified. It is shown that the cause of changes in the optical properties of such films is related to micro‑inhomogeneities and elastic fields around them. Experimental studies of radiat...