Повышение радиационной устойчивости кремниевых монокристаллических эпитаксиальных слоев
The authors investigate the possibility of increasing the radiation resistance of silicon epitaxial layers by creating radiation defects sinks in the form of dislocation networks of the density of 109–1012 m–2. Such networks are created before the epitaxial layer is applied on the front sur...
Saved in:
| Date: | 2014 |
|---|---|
| Main Authors: | Kurmashev, Sh. D., Kulinich, O. A., Brusenskaya, G. I., Verem’eva, A. V. |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2014
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2014.5-6.57 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipmentSimilar Items
-
Повышение радиационной устойчивости кремниевых монокристаллических эпитаксиальных слоев
by: Курмашев, Ш.Д., et al.
Published: (2014) -
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения
by: Perevertailo, V. L.
Published: (2012) -
Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO2–Si»
by: Kulinich, О. А., et al.
Published: (2012) -
Получение двухсторонних высоковольтных эпитаксиальных кремниевых p–i–n-структур методом ЖФЭ
by: Vakiv, N. M., et al.
Published: (2013) -
Повышение эффективности кремниевых солнечных элементов посредством нанопористого покрытия
by: Dzhafarov, T. D., et al.
Published: (2012)