Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок
Expressions for calculating the measurement errors of X-ray devices features are given as follows: mean photon energy, homogeneity coefficient, the first and the second half-value layer (1st HVL, 2nd HVL). Comparison of errors is organized at measurement and calculation of features of X-ray installa...
Saved in:
| Date: | 2011 |
|---|---|
| Main Authors: | Dushkin, S. A., Ivanskiy, V. B., Kurov, A. M., Odinets, V. A., Orobinskiy, A. N. |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
PE "Politekhperiodika", Book and Journal Publishers
2011
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://www.tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/TKEA2011.3.44 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Technology and design in electronic equipment |
Institution
Technology and design in electronic equipmentSimilar Items
-
Расчет характеристик рентгеновских установок
by: Orobinskyi, A. N.
Published: (2015) -
Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок
by: Душкин, С.А., et al.
Published: (2011) -
Система охлаждения испарительно-конденсационного типа для рентгеновских трубок
by: Gershuni, A. N., et al.
Published: (2011) -
Определение радиационной стойкости ИС с помощью низкоэнергетического излучения
by: Perevertailo, V. L.
Published: (2012) -
ПРИБЛИЖЕННЫЕ ГРАНИЧНЫЕ УСЛОВИЯ И КОЭФФИЦИЕНТЫ ЭКРАНИРОВАНИЯ ТОНКИХ ПРОВОДЯЩИХ ОБОЛОЧЕК
by: Бондина, Н.Н., et al.
Published: (2012)