$Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon$

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2010
Автори:	V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskii, Ye. M. Kyslovskyy, E. G. Len, O. V. Reshetnyk, T. P. Vladimirova, V. V. Lizunov, S. V. Lizunova
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2010
Назва видання:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000349374
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)

Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)

X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)

Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field
за авторством: Vladimirova, T.P., та інші
Опубліковано: (2011)

Transformations of microdefect structure in silicon crystals under the influence of weak magnetic field
за авторством: T. P. Vladimirova, та інші
Опубліковано: (2011)

Dispersion (Phase) Nature of Structural Sensitivity and Informativity of Triple-Crystal Diffractometry of Defects and Strains within the Ion-Implanted Films
за авторством: O. S. Skakunova, та інші
Опубліковано: (2015)

Classification of microdefects in semiconducting silicon
за авторством: Talanin, V.I., та інші
Опубліковано: (2003)

New Performance Capabilities of Integral Dynamical Diffractometry of Crystal Imperfections
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015)

Dynamical diffractometry of Structural defects in Nd3Ga5O12 garnet single crystal
за авторством: T. P. Vladimirova, та інші
Опубліковано: (2011)

Dynamical Diffractometry of Defects and Strains in Gd3Ga5O12 Garnet Crystals After Implantation with F+ Ions
за авторством: O. S. Skakunova, та інші
Опубліковано: (2013)

Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)

X-Ray Diffractometry of Lanthanum-Doped Iron—Yttrium Garnet Structures after Ion Implantation
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

New approaches and possibilities of a dynamical diffractometry of imperfections of multiparameter systems
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2014)

Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods
за авторством: S. I. Drapak, та інші
Опубліковано: (2022)

Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods
за авторством: S. I. Drapak, та інші
Опубліковано: (2022)

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)

Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)

Influence of absorption level on mechanisms of Braggdiffracted x-ray beam formation in real silicon crystals
за авторством: Klad'ko, V. P., та інші
Опубліковано: (1999)

Dynamical Theory of Grazing Diffuse Scattering of X-Rays by a Crystal with Subsurface Defects
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

Integral multiparameter diffractometry of nanosystems on the basis of effects of multiplicity of diffuse scattering
за авторством: A. P. Shpak, та інші
Опубліковано: (2009)

Detection of microdefects on the surface of corroded steel pipe
за авторством: P. O. Marushchak, та інші
Опубліковано: (2020)

Nucleation, growth and transformation of microdefects in FZ-Si
за авторством: Talanin, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)

Integrated diffractometry: achieved progress and new performance capabilities
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2019)

Integrated diffractometry: achieved progress and new performance capabilities
за авторством: Lizunov, V.V., та інші
Опубліковано: (2019)

Comprehensive investigation of defects in highly perfect silicon single crystals
за авторством: Prokopenko, I.V., та інші
Опубліковано: (2000)

Unique informativity of the diffuse dynamical combined diffractometry of materials and products of nanotechnologies
за авторством: A. P. Shpak, та інші
Опубліковано: (2008)

Quantum-Mechanical Model of Interconsistent Amplitude and Dispersion Influences of Structure Imperfections on the Multiple Scattering Pattern for Mapping and Characterization of Strains and Defects in Ion-Implanted Garnet Films
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2015)

Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)

X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)

Divergent-beam X-ray structural studies of a disturbed surface layer in silicon plates
за авторством: Tkach, V.N.
Опубліковано: (2002)

Detectors and instruments for detection of X-ray radiation on the basis of zinc selenide crystals
за авторством: Ryzhikov, V.D., та інші
Опубліковано: (2015)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray investigation of dibenzotetraaza|14|annulene thin films crystal structure
за авторством: V. G. Udovitskij
Опубліковано: (2003)

Notes on coherent polarization X-ray radiation by relativistic electrons in a crystal
за авторством: Morokhovskii, V.L.
Опубліковано: (2019)

Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)