Зображення обкладинки

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2019
Автори:	M. D. Borcha, M. S. Solodkyi, S. V. Balovsyak, V. M. Tkach, I. I. Hutsuliak, A. R. Kuzmin, O. O. Tkach, V. P. Kladko, Yo. Gudymenko, O. I. Liubchenko
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2019
Назва видання:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001073935
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: Borcha, M.D., та інші
Опубліковано: (2019)

A strain state in synthetic diamond crystals by the data of electron backscatter diffraction method
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2016)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

Electron Backscatter Diffraction Analysis of the Microstructure Fineness in Pure Copper under Torsional Deformation
за авторством: Wang, C.P., та інші
Опубліковано: (2018)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)

Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Modeling of X-ray rocking curves for layers after two-stage ion-implantation
за авторством: O. I. Liubchenko, та інші
Опубліковано: (2017)

Modeling of X-ray rocking curves for layers after two-stage ion-implantation
за авторством: Liubchenko, O.I., та інші
Опубліковано: (2017)

Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)

Determination of structural homogeneity of synthetic diamonds from analysis of Kikuchi lines intensity distribution
за авторством: I. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)

Determination of structural homogeneity of synthetic diamonds from analysis of Kikuchi lines intensity distribution
за авторством: Fodchuk, I., та інші
Опубліковано: (2010)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)

Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
за авторством: Claudio, D., та інші
Опубліковано: (2005)

Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni
за авторством: Garsia-Garsia, E., та інші
Опубліковано: (1998)

Integrated diffractometry: achieved progress and new performance capabilities
за авторством: Lizunov, V.V., та інші
Опубліковано: (2019)

Integrated diffractometry: achieved progress and new performance capabilities
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2019)

Influence of small miscuts on self-ordered growth of Ge nanoislands
за авторством: Gudymenko, O.Yo., та інші
Опубліковано: (2011)

Influence of small miscuts on self-ordered growth of Ge nanoislands
за авторством: Yo. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2011)

Pityous and its mosaics
за авторством: Plontke -Luening, A.
Опубліковано: (2006)

Sea Radar Backscattering Intensity for Small Grazing Angles
за авторством: Gutnik, V. G., та інші
Опубліковано: (2013)

Mechanisms of electron scattering in uniaxially deformed n-Ge‹Sb, Au› single crystals
за авторством: Luniov, S.V., та інші
Опубліковано: (2019)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)

Determination of surface parameters for backscattering simulation in the millimeter and centimeter wave regions
за авторством: O. V. Bukin, та інші
Опубліковано: (2020)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)

The amplitude of the coherent backscattering intensity peak for discrete random media: effect of packing density
за авторством: Mishchenko, M.I.
Опубліковано: (2010)

Some Features of Microwave Backscatter by Hydrodynamic Formations of Surface Objects
за авторством: Gutnik, V. G., та інші
Опубліковано: (2013)

Unique informativity of the diffuse dynamical combined diffractometry of materials and products of nanotechnologies
за авторством: A. P. Shpak, та інші
Опубліковано: (2008)

Polarization properties and a local structure of (GeSe₂)x(Sb2Se₃)₁-x glasses
за авторством: Malesh, V.I., та інші
Опубліковано: (2002)

Extreme problem for a mosaic system of points
за авторством: A. L. Tarhonskyi, та інші
Опубліковано: (2020)

X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)

Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafraniuk, та інші
Опубліковано: (2017)

Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafranjuk, та інші
Опубліковано: (2017)

Spike Statistics of Sea Backscattering at Centimeter and Millimeter Bands of Radio Waves
за авторством: Gutnik, V. G., та інші
Опубліковано: (2013)

New Performance Capabilities of Integral Dynamical Diffractometry of Crystal Imperfections
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015)

Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)

Integral multiparameter diffractometry of nanosystems on the basis of effects of multiplicity of diffuse scattering
за авторством: A. P. Shpak, та інші
Опубліковано: (2009)

SELECTION OF SHF-BACKSCATTERING MODEL OF THE SEA SURFACE WITH REGARD TO SHADOWING
за авторством: Bukin, A. V., та інші
Опубліковано: (2023)

Biological and physicochemical properties of cymbidium mosaic virus
за авторством: N. Y. Parkhomenko, та інші
Опубліковано: (2020)

The Alexander Mosaic and Hellenistic scenes of violence
за авторством: P. N. Skupniewicz
Опубліковано: (2018)

Interaction influence in systems M2Se3—Ge (M – In,Sb) on properties of thin-film coatings
за авторством: V. F. Zinchenko, та інші
Опубліковано: (2014)