In-process monitoring of shape accuracy of flat surfaces of optical and microelectronic components in polishing
Збережено в:
| Дата: | 2017 |
|---|---|
| Автори: | Ju. D. Filatov, V. I. Sidorko, S. V. Kovalev, Ju. Filatov, G. Montej |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2017
|
| Назва видання: | Superhard Materials |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000850183 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Precision shaping flat surfaces details of optics and microelectronics when polishing
за авторством: Ju. D. Filatov, та інші
Опубліковано: (2016) -
Formation of flat surfaces of optoelectronic components in diamond polishing
за авторством: Ju. D. Filatov, та інші
Опубліковано: (2017) -
Polished surface roughness of optoelectronic components made of monocrystalline materials
за авторством: Ju. Filatov, та інші
Опубліковано: (2016) -
Surface roughness of optoelectronic components in mechanical polishing
за авторством: Ju. D. Filatov
Опубліковано: (2018) -
Influence of parameters of structure of the processed material on polishing indicators optical surfaces
за авторством: Yu. D. Filatov, та інші
Опубліковано: (2021)