Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
Збережено в:
| Дата: | 2015 |
|---|---|
| Автори: | T. S. Rozouvan, L. V. Poperenko, I. A. Shaykevich |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2015
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000353228 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2015)
Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: V. G. Kravets, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: V. G. Kravets, та інші
Опубліковано: (2017)
Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2017)
Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (2003)
The enhancement of optical processes near rough surface of metals
за авторством: Dovbeshko, G.I., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Dovbeshko, G.I., та інші
Опубліковано: (2004)
Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (1999)
Detection of interaction between the nanoparticles on surface using ellipsometry
за авторством: T. A. Mishakova, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: T. A. Mishakova, та інші
Опубліковано: (2011)
Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2016)
Adsorption of molecular oxygen onto Si1-xGex/Si(001) surface
за авторством: A. A. Greenchuk, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: A. A. Greenchuk, та інші
Опубліковано: (2012)
Adsorption of molecular oxygen onto Si1-xGex/Si(001) surface
за авторством: O. A. Hrynchuk, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: O. A. Hrynchuk, та інші
Опубліковано: (2012)
Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2016)
Roughness of polished surfaces of optoelectronic elements made of polymeric optical materials
за авторством: Yu. D. Filatov, та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: Yu. D. Filatov, та інші
Опубліковано: (2023)
Atom dispersion on the rough surface
за авторством: A. S. Dolgov, та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: A. S. Dolgov, та інші
Опубліковано: (2008)
Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2008)
Ellipsometric diagnostics of a transient surface layer in optical glass
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Ellipsometric diagnostics of a transient surface layer in optical glass
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Influence of ion bombardment and roughness of the initial surface on optical parameters of amorphous metallic alloys
за авторством: V. D. Karpusha, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. D. Karpusha, та інші
Опубліковано: (2013)
Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2003)
Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals
за авторством: Filipov, Y.V., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Filipov, Y.V., та інші
Опубліковано: (2004)
Morphology and optical properties of tetragonal Ge nanoclusters grown on chemically oxidized Si(100) surfaces
за авторством: V. S. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: V. S. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2012)
Morphology and optical properties of tetragonal Ge nanoclusters grown on chemically oxidized Si(100) surfaces
за авторством: V. S. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: V. S. Lysenko, та інші
Опубліковано: (2012)
Optical properties of the modified structures of surface layers of amorphous metallic alloy ribbons
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2006)
Surface roughness of optoelectronic components in mechanical polishing
за авторством: Ju. D. Filatov
Опубліковано: (2018)
за авторством: Ju. D. Filatov
Опубліковано: (2018)
Electronic states at a solid rough surface
за авторством: S. I. Khankina, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: S. I. Khankina, та інші
Опубліковано: (2011)
Wave transformation from statistically rough surface
за авторством: Bass, F.G., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Bass, F.G., та інші
Опубліковано: (2009)
Effect of increasing surface roughness on sputtering and reflection
за авторством: Bizyukov, I., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Bizyukov, I., та інші
Опубліковано: (2012)
Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)
Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: Yampolskiy, A.L., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yampolskiy, A.L., та інші
Опубліковано: (2018)
Surface stresses at the initial steps of the GexSi1-x/Si(001) surface oxidation
за авторством: O. A. Hrynchuk, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: O. A. Hrynchuk, та інші
Опубліковано: (2014)
Surface stresses at the initial steps of the GexSi1-x/Si(001) surface oxidation
за авторством: A. A. Grynchuk, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: A. A. Grynchuk, та інші
Опубліковано: (2014)
Use of the determined properties of a roughness of a surface in measurement of a geometrical form of object
за авторством: M. I. Dzubenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: M. I. Dzubenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Use of the determined properties of a roughness of a surface in measurement of a geometrical form of object
за авторством: Dzubenko, M.I., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Dzubenko, M.I., та інші
Опубліковано: (2013)
The influence of circumferential waviness of the diamond wheel working surface on the machined surface roughness
за авторством: O. O. Pasichnyi, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: O. O. Pasichnyi, та інші
Опубліковано: (2019)
The influence of debris solids on the ground surface roughness and the assessment of the surface scratching probability
за авторством: V. I. Lavrinenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: V. I. Lavrinenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Metals and alloys surface roughness investigation and control methods
за авторством: Ju. F. Nazarov, та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Ju. F. Nazarov, та інші
Опубліковано: (2007)
Adhesional Contact of Bodies with a Curved Rough Surface
за авторством: I. K. Valieieva
Опубліковано: (2021)
за авторством: I. K. Valieieva
Опубліковано: (2021)
Spatial resolution of scanning tunneling microscopy
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)
Experimental study of the formation of surface roughness of the sprayed ceramic layer on the necks of the rotor shafts of gas turbine
за авторством: Лебедев, Владимир, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Лебедев, Владимир, та інші
Опубліковано: (2014)
Experimental study of the formation of surface roughness of the sprayed ceramic layer on the necks of the rotor shafts of gas turbine
за авторством: Лебедев, Владимир, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Лебедев, Владимир, та інші
Опубліковано: (2014)
Experimental study of the formation of surface roughness of the sprayed ceramic layer on the necks of the rotor shafts of gas turbine
за авторством: V. G. Lebedev, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. G. Lebedev, та інші
Опубліковано: (2013)
Схожі ресурси
-
Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2015) -
Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: V. G. Kravets, та інші
Опубліковано: (2017) -
Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2017) -
Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (2003) -
The enhancement of optical processes near rough surface of metals
за авторством: Dovbeshko, G.I., та інші
Опубліковано: (2004)