Study of probe methods for fabrication of units for nanoelectronic devices and diagnostic technique using electrostatic force microscopy
Збережено в:
Дата: | 2011 |
---|---|
Автори: | N. I. Khodakovskij, Ju. Larkin, G. G. Galstjan |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2011
|
Назва видання: | Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000473640 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Proton Beam Writing Device Based on Electrostatic Accelerator for 3D Micro- and Nano-Structure Fabrication
за авторством: A. G. Ponomarev, та інші
Опубліковано: (2019) -
Formation of wear-resistant coatings on silicon probes for atomic force microscopy by thermal vacuum evaporation
за авторством: V. S. Antoniuk, та інші
Опубліковано: (2015) -
Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011) -
Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: Beketov, G.V.
Опубліковано: (2011) -
Interparticle interactions potential in concentrated electrolyte solutions: electrostatic forces
за авторством: G. G. Aseev
Опубліковано: (2012)