Зображення обкладинки

Study of probe methods for fabrication of units for nanoelectronic devices and diagnostic technique using electrostatic force microscopy

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2011
Автори:	N. I. Khodakovskij, Ju. Larkin, G. G. Galstjan
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2011
Назва видання:	Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000473640
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Proton Beam Writing Device Based on Electrostatic Accelerator for 3D Micro- and Nano-Structure Fabrication
за авторством: A. G. Ponomarev, та інші
Опубліковано: (2019)

Formation of wear-resistant coatings on silicon probes for atomic force microscopy by thermal vacuum evaporation
за авторством: V. S. Antoniuk, та інші
Опубліковано: (2015)

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: H. M. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

Interparticle interactions potential in concentrated electrolyte solutions: electrostatic forces
за авторством: G. G. Aseev
Опубліковано: (2012)

Boron-doped diamond single crystals for probes of the high-vacuum tunneling microscopy
за авторством: A. P. Chepugov, та інші
Опубліковано: (2013)

Nanointegration and self-assembling in nanoelectronics (review)
за авторством: G. S. Svechnikov, та інші
Опубліковано: (2010)

The source of macroparticle-free plasma flows for nanoelectronics
за авторством: A. G. Borisenko
Опубліковано: (2013)

Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by scanning probe microscopy methods
за авторством: O. I. Synhaivska, та інші
Опубліковано: (2016)

Thermoelectric device with electronic control unit for diagnostics of inflammatory processes in the human organism
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2017)

Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: Ye. A. Yelisieiev
Опубліковано: (2015)

Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: E. A. Eliseev
Опубліковано: (2015)

Synthesis and study of silicate sol–gel coatings for micro- and nanoelectronics
за авторством: V. V. Vaskevich, та інші
Опубліковано: (2014)

Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
за авторством: Ponomarev, A.G., та інші
Опубліковано: (2018)

Microwave high-resolution scanning heating in the technology of micro- and nanoelectronics
за авторством: Ju. E. Gordienko, та інші
Опубліковано: (2015)

New directions in point-contact spectroscopy based on scanning tunneling microscopy techniques (Review Article)
за авторством: Tartaglini, E., та інші
Опубліковано: (2013)

ELECTROSTATIC PROCESSES IN POWER CABLES
за авторством: Bezprozvannych, G. V., та інші
Опубліковано: (2013)

Study of the processes of molecular devices working at the formation of memory in the neuron nucleus
за авторством: N. I. Khodakovskij
Опубліковано: (2017)

Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Nanoelectronics and Optoelectronics: Science, Nanotechnology, Engineering and Application. Lectures 5 and 6
за авторством: V. O. Kochelap
Опубліковано: (2019)

Nanoelectronics and Optoelectronics: Science, Nanotechnology, Engineering and Application. Lectures 7 and 8
за авторством: V. O. Kochelap
Опубліковано: (2019)

Optimization of the electrostatic structure of the ion microprobe
за авторством: I. G. Ignatev, та інші
Опубліковано: (2013)

Optimization of the electrostatic structure of the ion microprobe
за авторством: I. G. Ignatev, та інші
Опубліковано: (2012)

Fabrication of nanosize films on the base of scutterudite CoSb3 for thermoelectric devices
за авторством: Yu. M. Makogon, та інші
Опубліковано: (2018)

A dual heavy ion beam probe diagnostic on the TJ-II stellarator
за авторством: Chmyga, O.O., та інші
Опубліковано: (2019)

The method of constructing memory devices with ultrahigh density of information recording
за авторством: N. I. Khodakovskij
Опубліковано: (2019)

A device for external respiration diagnostics
за авторством: S. I. Lukash, та інші
Опубліковано: (2016)

Specificity of manufacturing process validation for diagnostic serological devices
за авторством: Yu. Galkin, та інші
Опубліковано: (2018)

Determination of adhesion strength of thin oxide coatings on dielectric materials by the method of atomic force microscopy
за авторством: S. A. Bilokon, та інші
Опубліковано: (2014)

Introduction to nanoelectronics and optoelectronics: Science, Nanotechnology, Engineering and application (lectures 3 and 4)
за авторством: V. O. Kochelap
Опубліковано: (2019)

REQUIREMENTS FOR DEVICES FOR VERTICAL ELECTRICAL SOUNDING OF SOIL AT DIAGNOSTICS OF GROUNDING DEVICES
за авторством: Rudenko, S. S.
Опубліковано: (2016)

High voltage test bench for heavy ion beam probe diagnostics on T-15MD tokamak
за авторством: Vadimov, N.A., та інші
Опубліковано: (2020)

Effect of fabrication technique on the structure and thermoelectric properties of Bi2Te3 films
за авторством: A. V. Budnik, та інші
Опубліковано: (2013)

A TECHNIQUE OF MEASURING OF RESISTANCE OF A GROUNDING DEVICE
за авторством: Nizhevskyi, I. V., та інші
Опубліковано: (2016)

A TECHNIQUE OF FULL-SCALE MEASUREMENTS OF THE RESISTANCE OF THE GROUNDING DEVICE
за авторством: Nizhevskyi, I. V., та інші
Опубліковано: (2018)

Algorithms of functioning of virtual devices for medical-diagnostic complexes
за авторством: E. A. Timashov
Опубліковано: (2017)

Mechanical Preparation of Samples for Electron Microscopy Studying
за авторством: S. A. Firstov, та інші
Опубліковано: (2012)

Working out of technique of diagnostics of a condition of plants
за авторством: D. M. Artemenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Influence of elastic deformation on local current characteristics of separate Ge nanoclusters on Si investigated by conducting atomic force microscopy
за авторством: Ju. Rubezhanskaja
Опубліковано: (2012)