Study of probe methods for fabrication of units for nanoelectronic devices and diagnostic technique using electrostatic force microscopy
Gespeichert in:
| Datum: | 2011 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | N. I. Khodakovskij, Ju. Larkin, G. G. Galstjan |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
2011
|
| Schriftenreihe: | Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000473640 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
Proton Beam Writing Device Based on Electrostatic Accelerator for 3D Micro- and Nano-Structure Fabrication
von: A. G. Ponomarev, et al.
Veröffentlicht: (2019)
von: A. G. Ponomarev, et al.
Veröffentlicht: (2019)
Formation of wear-resistant coatings on silicon probes for atomic force microscopy by thermal vacuum evaporation
von: V. S. Antoniuk, et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: V. S. Antoniuk, et al.
Veröffentlicht: (2015)
Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
von: G. V. Beketov
Veröffentlicht: (2011)
von: G. V. Beketov
Veröffentlicht: (2011)
Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
von: A. N. Morozovska, et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: A. N. Morozovska, et al.
Veröffentlicht: (2015)
Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
von: H. M. Morozovska, et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: H. M. Morozovska, et al.
Veröffentlicht: (2015)
Interparticle interactions potential in concentrated electrolyte solutions: electrostatic forces
von: G. G. Aseev
Veröffentlicht: (2012)
von: G. G. Aseev
Veröffentlicht: (2012)
A new control unit for probing ion beam forming in HIBP diagnostic systems
von: Zhezhera, A.I., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Zhezhera, A.I., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Accuracy of electrostatic energy analyzer in HIBP diagnostic
von: Bondarenko, J.S., et al.
Veröffentlicht: (2002)
von: Bondarenko, J.S., et al.
Veröffentlicht: (2002)
Boron-doped diamond single crystals for probes of the high-vacuum tunneling microscopy
von: A. P. Chepugov, et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: A. P. Chepugov, et al.
Veröffentlicht: (2013)
Distortion compensation technique for high resolution microscopy
von: Borovytsky, V.N.
Veröffentlicht: (2003)
von: Borovytsky, V.N.
Veröffentlicht: (2003)
Nanointegration and self-assembling in nanoelectronics (review)
von: G. S. Svechnikov, et al.
Veröffentlicht: (2010)
von: G. S. Svechnikov, et al.
Veröffentlicht: (2010)
Design and fabrication a novel probe in IR-T1 Tokamak
von: Ghoranneviss, Mahmood, et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Ghoranneviss, Mahmood, et al.
Veröffentlicht: (2015)
Thermoelectric device with electronic control unit for diagnostics of inflammatory processes in the human organism
von: L. I. Anatychuk, et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: L. I. Anatychuk, et al.
Veröffentlicht: (2017)
The source of macroparticle-free plasma flows for nanoelectronics
von: A. G. Borisenko
Veröffentlicht: (2013)
von: A. G. Borisenko
Veröffentlicht: (2013)
Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by scanning probe microscopy methods
von: O. I. Synhaivska, et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: O. I. Synhaivska, et al.
Veröffentlicht: (2016)
Spectroscopy and probe diagnostics of DC spherical glow discharge
von: Zhovtyansky, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Zhovtyansky, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
von: Ye. A. Yelisieiev
Veröffentlicht: (2015)
von: Ye. A. Yelisieiev
Veröffentlicht: (2015)
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
von: E. A. Eliseev
Veröffentlicht: (2015)
von: E. A. Eliseev
Veröffentlicht: (2015)
Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
von: Ponomarev, A.G., et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: Ponomarev, A.G., et al.
Veröffentlicht: (2018)
Determination of adhesion strength of thin oxide coatings on dielectric materials by the method of atomic force microscopy
von: S. A. Bilokon, et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: S. A. Bilokon, et al.
Veröffentlicht: (2014)
Microwave high-resolution scanning heating in the technology of micro- and nanoelectronics
von: Ju. E. Gordienko, et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: Ju. E. Gordienko, et al.
Veröffentlicht: (2015)
New directions in point-contact spectroscopy based on scanning tunneling microscopy techniques (Review Article)
von: Tartaglini, E., et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: Tartaglini, E., et al.
Veröffentlicht: (2013)
Fabrication of Nanosize Films on the Base of Scutterudite CoSb₃ for Thermoelectric Devices
von: Makogon, Yu.M., et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: Makogon, Yu.M., et al.
Veröffentlicht: (2018)
Optical and probe diagnostics of plasma-liquid systems with secondary discharge
von: Prysiazhnevych, I.V., et al.
Veröffentlicht: (2007)
von: Prysiazhnevych, I.V., et al.
Veröffentlicht: (2007)
Properties of SiGe/Si heterostructures fabricated by ion implantation technique
von: Gomeniuk, Y.V., et al.
Veröffentlicht: (1999)
von: Gomeniuk, Y.V., et al.
Veröffentlicht: (1999)
Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions
von: I. M. Fodchuk, et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: I. M. Fodchuk, et al.
Veröffentlicht: (2013)
The method of constructing memory devices with ultrahigh density of information recording
von: N. I. Khodakovskij
Veröffentlicht: (2019)
von: N. I. Khodakovskij
Veröffentlicht: (2019)
Analysis and synthesis of electrostatic focusing and accelerating devices with the help of Kapchinskij-Vladimirskij “microcanonical” beam model
von: Zubetz, V.N., et al.
Veröffentlicht: (1999)
von: Zubetz, V.N., et al.
Veröffentlicht: (1999)
Specificity of manufacturing process validation for diagnostic serological devices
von: Yu. Galkin, et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: Yu. Galkin, et al.
Veröffentlicht: (2018)
A device for external respiration diagnostics
von: S. I. Lukash, et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: S. I. Lukash, et al.
Veröffentlicht: (2016)
Modelling of micro- and nanodomain arrays recorded in ferroelectrics-semiconductors by using atomic force microscopy
von: Morozovska, A.N.
Veröffentlicht: (2006)
von: Morozovska, A.N.
Veröffentlicht: (2006)
Diagnostics and technique for the analysis pipelines transportation
von: Makharadze, L., et al.
Veröffentlicht: (2012)
von: Makharadze, L., et al.
Veröffentlicht: (2012)
Fabrication of nanosize films on the base of scutterudite CoSb3 for thermoelectric devices
von: Yu. M. Makogon, et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: Yu. M. Makogon, et al.
Veröffentlicht: (2018)
ELECTROSTATIC PROCESSES IN POWER CABLES
von: Bezprozvannych, G. V., et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: Bezprozvannych, G. V., et al.
Veröffentlicht: (2013)
REQUIREMENTS FOR DEVICES FOR VERTICAL ELECTRICAL SOUNDING OF SOIL AT DIAGNOSTICS OF GROUNDING DEVICES
von: Rudenko, S. S.
Veröffentlicht: (2016)
von: Rudenko, S. S.
Veröffentlicht: (2016)
Study of the processes of molecular devices working at the formation of memory in the neuron nucleus
von: N. I. Khodakovskij
Veröffentlicht: (2017)
von: N. I. Khodakovskij
Veröffentlicht: (2017)
Influence of elastic deformation on local current characteristics of separate Ge nanoclusters on Si investigated by conducting atomic force microscopy
von: Ju. Rubezhanskaja
Veröffentlicht: (2012)
von: Ju. Rubezhanskaja
Veröffentlicht: (2012)
Synthesis and study of silicate sol–gel coatings for micro- and nanoelectronics
von: V. V. Vaskevich, et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: V. V. Vaskevich, et al.
Veröffentlicht: (2014)
Two-dimensional photonic crystals as perspective materials of modern nanoelectronics
von: Karachevtseva, L.A.
Veröffentlicht: (2004)
von: Karachevtseva, L.A.
Veröffentlicht: (2004)
A dual heavy ion beam probe diagnostic on the TJ-II stellarator
von: Chmyga, O.O., et al.
Veröffentlicht: (2019)
von: Chmyga, O.O., et al.
Veröffentlicht: (2019)
Ähnliche Einträge
-
Proton Beam Writing Device Based on Electrostatic Accelerator for 3D Micro- and Nano-Structure Fabrication
von: A. G. Ponomarev, et al.
Veröffentlicht: (2019) -
Formation of wear-resistant coatings on silicon probes for atomic force microscopy by thermal vacuum evaporation
von: V. S. Antoniuk, et al.
Veröffentlicht: (2015) -
Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
von: G. V. Beketov
Veröffentlicht: (2011) -
Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
von: A. N. Morozovska, et al.
Veröffentlicht: (2015) -
Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
von: H. M. Morozovska, et al.
Veröffentlicht: (2015)