Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
61
Научно-технический раздел
45
Системный анализ
29
-
28
Original contributions
28
Low temperature plasma and plasma technologies
25
Теоретическая и экспериментальная криобиология
25
Применение методов и средств моделирования
22
Статті
22
UDC 681.3
19
Reviews
18
Системний аналіз
17
УДК 681.3
17
renewable energy sources
16
Механіка
16
Теория и техника ускорения частиц
16
відновлювані джерела енергії
16
моделювання
16
Plasma electronics
15
ontology
15
Низкотемпературная плазма и плазменные технологии
15
онтологія
15
Методы обработки информации
14
математичне моделювання
14
Basic plasma physics
13
finite element method
13
mathematical model
13
Низкотемпеpатуpный магнетизм
13
Обчислювальні системи
13
Получение, структура, свойства
13
-
3441за авторством Jableka, D., Zola, S., Zakrzewski, B., Szymanski, T., Kuzmicz, A., de Villiers, S.N., Zejda, M., Koziel-Wierzbowska, D.Отримати повний текст
Опубліковано в: Advances in Astronomy and Space Physics (2012)
Стаття -
3442
-
3443за авторством Krasnytska, M., Berche, B., Holovatch, Yu., Kenna, R.Отримати повний текст
Опубліковано в: Condensed Matter Physics (2015)
Стаття -
3444за авторством Aizatsky, M.I., Kramarenko, E.U., Khodak, I.V., Kushnir, V.A., Mytrochenko, V.V., Perezhogin, S.A.Отримати повний текст
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2006)
Стаття -
3445
-
3446
-
3447
-
3448
-
3449
-
3450
-
3451
-
3452
-
3453за авторством Юркова, И.Ю.Отримати повний текст
Опубліковано в: Екологічна безпека прибережної та шельфової зон та комплексне використання ресурсів шельфу (2005)
Стаття -
3454
-
3455
-
3456
-
3457за авторством Strelchuk, V.V., Kladko, V.P., Yefanov, O.M., Kolomys, O.F., Gudymenko, O.I., Valakh, M.Ya.Отримати повний текст
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)
Стаття -
3458
-
3459за авторством Горбик, П.П., Абрамов, Н.В., Петрановская, А.Л., Турелик, М.П., Пилипчук, Е.В., Оранская, Е.И., Кончиц, А.А., Шевченко, Ю.Б.Отримати повний текст
Опубліковано в: Поверхность (2011)
Стаття -
3460