Харвестер відкритої науки НАН України

Microfluctuations of oxygen impurity concentration as a reason of accelerated oxygen diffusion in silicon

за авторством Neimash, V.B., Puzenko, O.O., Kraitchinskii, A.M., Krasko, M.M., Putselyk, S., Claeys, C., Simoen, E.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)

Вплив олова на структурнi перетворення тонкоплiвкової субоксидної матрицi кремнiю

за авторством Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yuchymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. G., Povarchuk, V. Yu., Khachevich, I. M., Rudenko, M. P.
Опубліковано 2019