Харвестер відкритої науки НАН України

Simulating the diffraction grating reflectivity using effective medium theory

за авторством Goloborodko, A.A., Goloborodko, N.S., Oberemok, Ye.A., Savenkov, S.N.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2013)

Про механiзм впливу газового середовища на електрофiзичнi параметри гетероструктур на основi бар’єра Шотткi з наноструктурованими плiвками складу (95% In2O3 + 5% SnO2)...

за авторством Il'chenko, V. V., Kostiukevych, O. M., Lendiel, V. V., Radko, V. I., Goloborodko, N. S.
Опубліковано 2019

Determination of surface defects by using the wavefront scanner

за авторством Goloborodko, N.S., Grygoruk, V.I., Kurashov, V.N., Podanchuk, D.V., Goloborodko, A.A., Kotov, M.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)

Оптичнi та електрофiзичнi властивостi гетероструктури 95% In2O3 + 5% SnO2/ns-Si

за авторством Vinichenko, V. A., Buchenko, V. V., Goloborodko, N. S., Lendel, V. V., Lushkin, A. E., Telega, V. N.
Опубліковано 2019