Результати пошуку - Gorev, N.B.
- Показ 1 - 10 результатів із 10
-
1
Диагностика глубоких центров на границе пленка–подложка в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs... за авторством Gorev, N. B., Kodzhespirova, I. F., Privalov, E. N.
Опубліковано 2010Отримати повний текст
Стаття -
2
Вольт-фарадные измерения в тонкопленочных эпитаксиальных структурах GaAs за авторством Gorev, N. B., Kodzhespirova, I. F., Privalov, E. N.
Опубліковано 2009Отримати повний текст
Стаття -
3
Вольт-фарадные характеристики ионно-имплантированных структур GaAs за авторством Gorev, N. B., Kodzhespirova, I. F., Privalov, E. N.
Опубліковано 2008Отримати повний текст
Стаття -
4
Прогнозирование напряжения отсечки ионно-имплантированных полевых транзисторов с барьером Шоттки на GaAs... за авторством Gorev, N. B., Kodzhespirova, I. F., Privalov, E. N.
Опубліковано 2007Отримати повний текст
Стаття -
5
Прогнозирование разброса параметров полевых транзисторов с барьером Шоттки на GaAs за авторством Gorev, N. B., Kodzhespirova, I. F., Privalov, E. N.
Опубліковано 2006Отримати повний текст
Стаття -
6
Рhase ambiguity resolution in relative displacement measurement by microwave interferome-try за авторством Pylypenko, O.V., Gorev, N.B., Doronin, A.V., Kodzhespirova, I.F.
Опубліковано в: Техническая механика (2017)Отримати повний текст
Стаття -
7
Experimental verification of a two-probe implemetration of microwave interferometry for displacement measurement за авторством Pylypenko, O.V., Doronin, A.V., Gorev, N.B., Kodzhespirova, I.F.
Опубліковано в: Технічна механіка (2018)Отримати повний текст
Стаття -
8
-
9
-
10
Two-probe measurements of the displacement of an object with account for the antenna reflection coefficient за авторством Pylypenko, O.V., Doronin, A.V., Gorev, N.B., Kodzhespirova, I.F.
Опубліковано в: Технічна механіка (2019)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
gallium arsenide
Schottky barrier
арсенид галлия
барьер Шоттки
вольт-фарадная характеристика
deep centers
epitaxial structure
field-effect transistor
глубокие центры
напряжение отсечки
полевой транзистор
эпитаксиальная структура
Schottky barriers
capacitance-voltage characteristic
capacitance–voltage characteristic
capacity-voltage characteristic
current-voltage characteristics
cutoff voltage
deep trapping centers
deep traps
ion-implanted structure
parameter spread
saturation current
threshold voltage
transconductance
арсенид галлия
барьер Шоттки
вольт-фарадная характеристика
глубокие центры захвата
глубокие центры захвата