Suchergebnisse - Matveeva, L.

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    Применение статистических моделей в инженерии качества процессов производства программных систем... von Matveeva, L.Е., Gorislavets, T.N.

    Veröffentlicht 2015
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    Investigation of the undersurface damaged layers in silicon wafers von Holiney, R.Yu., Matveeva, L.A., Venger, E.F.

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  3. 3
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    Electron beam application for mechanical stress relaxation and for SI-SIO₂ interface structural regulation von Matveeva, L.A., Vanger, E.F., Holiney, R.Yu.

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  4. 4
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    Effects of interband phototunneling and filling the bands in electroreflectance spectra of germanium von Gentsar, P.A., Matveeva, L.A., Kudryavtsev, A.A., Venger, E.F.

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  5. 5
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    Analysis of the fundamental absorption edge of the films obtained from the C₆₀ fullerene molecular beam in vacuum and effect of internal mechanical stresses on it von Kolyadina, E.Yu., Matveeva, L.A., Neluba, P.L., Venger, E.F.

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  6. 6
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    Quantum-size effects in semiconductor heterosystems von Matveeva, L.A., Venger, E.F., Kolyadina, E.Yu., Neluba, P.L.

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  7. 7
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    Quantum-sized effects in oxidized silicon structures with surface II-VI nanocrystals von Karachevtseva, L., Kuchmii, S., Kolyadina, O., Lytvynenko, O., Matveeva, L., Sapelnikova, O., Smirnov, O., Stroyuk, O.

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  8. 8
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    Получение, свойства и применение тонких нанонеоднородных пленок Ge на GaAs-подложках von Venger, E. F., Lytvyn, P. M., Matveeva, L. A., Mitin, V. F., Kholevchuk, V. V.

    Veröffentlicht 2014
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  9. 9
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    Радиационная технология улучшения омических контактов к элементам электронной техники von Konakova, R. V., Kolyadina, Е. Yu., Matveeva, L. А., Nelyuba, P. L., Shynkarenko, V. V.

    Veröffentlicht 2010
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  10. 10
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    The features of structural-impurity ordering of interfaces in Ta₂O₅-p-Si heterostructures (exposed to microwave pretreatment and aging) induced by further microwave treatment von Kolyadina, E.Yu., Konakova, R.V., Matveeva, L.A., Mitin, V.F., Shynkarenko, V.V., Atanassova, E.

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  11. 11
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    Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments von Gorbach, T.Ya., Holiney, R.Yu., Matiyuk, I.M., Matveeva, L.A., Svechnikov, S.V., Venger, E.F.

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  12. 12
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    Potentiality of the composite fulleren based carbon films as the stripper foils for tandem accelerators von Vasin, A.V., Matveeva, L.A., Kozeratskaya, G.N., Rusavsky, A.V., Totsky, Yu.I., Vishnevsky, I.N.

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  13. 13
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    Ordering of lateral nonuniformity of TiBx film and transition layer in the TiBx-GaAs system von Konakova, R.V., Milenin, V.V., Voitsikhovskyi, D.I., Kamalov, A.B., Kolyadina, E.Yu., Lytvyn, P.M., Lytvyn, O.S., Matveeva, L.A., Prokopenko, I.V.

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  14. 14
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    Influence of neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon von Groza, A.A., Venger, E.F., Varnina, V.I., Holiney, R.Yu., Litovchenko, P.G., Matveeva, L.A., Litovchenko, A.P., Sugakov, V.I., Shmatko, G.G.

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