Результати пошуку - Matveeva, L.
- Показ 1 - 14 результатів із 14
-
1
Применение статистических моделей в инженерии качества процессов производства программных систем... за авторством Matveeva, L.Е., Gorislavets, T.N.
Опубліковано 2015Отримати повний текст
Стаття -
2
Investigation of the undersurface damaged layers in silicon wafers за авторством Holiney, R.Yu., Matveeva, L.A., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)Отримати повний текст
Стаття -
3
Electron beam application for mechanical stress relaxation and for SI-SIO₂ interface structural regulation за авторством Matveeva, L.A., Vanger, E.F., Holiney, R.Yu.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (1999)Отримати повний текст
Стаття -
4
-
5
Analysis of the fundamental absorption edge of the films obtained from the C₆₀ fullerene molecular beam in vacuum and effect of internal mechanical stresses on it за авторством Kolyadina, E.Yu., Matveeva, L.A., Neluba, P.L., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)Отримати повний текст
Стаття -
6
Quantum-size effects in semiconductor heterosystems за авторством Matveeva, L.A., Venger, E.F., Kolyadina, E.Yu., Neluba, P.L.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2017)Отримати повний текст
Стаття -
7
Quantum-sized effects in oxidized silicon structures with surface II-VI nanocrystals за авторством Karachevtseva, L., Kuchmii, S., Kolyadina, O., Lytvynenko, O., Matveeva, L., Sapelnikova, O., Smirnov, O., Stroyuk, O.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2014)Отримати повний текст
Стаття -
8
Получение, свойства и применение тонких нанонеоднородных пленок Ge на GaAs-подложках за авторством Venger, E. F., Lytvyn, P. M., Matveeva, L. A., Mitin, V. F., Kholevchuk, V. V.
Опубліковано 2014Отримати повний текст
Стаття -
9
Радиационная технология улучшения омических контактов к элементам электронной техники за авторством Konakova, R. V., Kolyadina, Е. Yu., Matveeva, L. А., Nelyuba, P. L., Shynkarenko, V. V.
Опубліковано 2010Отримати повний текст
Стаття -
10
The features of structural-impurity ordering of interfaces in Ta₂O₅-p-Si heterostructures (exposed to microwave pretreatment and aging) induced by further microwave treatment за авторством Kolyadina, E.Yu., Konakova, R.V., Matveeva, L.A., Mitin, V.F., Shynkarenko, V.V., Atanassova, E.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2008)Отримати повний текст
Стаття -
11
Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments за авторством Gorbach, T.Ya., Holiney, R.Yu., Matiyuk, I.M., Matveeva, L.A., Svechnikov, S.V., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1998)Отримати повний текст
Стаття -
12
-
13
Ordering of lateral nonuniformity of TiBx film and transition layer in the TiBx-GaAs system за авторством Konakova, R.V., Milenin, V.V., Voitsikhovskyi, D.I., Kamalov, A.B., Kolyadina, E.Yu., Lytvyn, P.M., Lytvyn, O.S., Matveeva, L.A., Prokopenko, I.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2001)Отримати повний текст
Стаття -
14
Influence of neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon за авторством Groza, A.A., Venger, E.F., Varnina, V.I., Holiney, R.Yu., Litovchenko, P.G., Matveeva, L.A., Litovchenko, A.P., Sugakov, V.I., Shmatko, G.G.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2001)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Ge films
UDC 681.3.06
electronic and optical properties
fullerene films
growth rate
intrinsic mechanical stresses
metallization
microwave annealing
surface morphology
УДК 681.3.06
внутренние механические напряжения
металлизация
микроволновый отжиг
морфология поверхности
пленки германия
скорость роста
фуллереновые пленки
электронные и оптические свойства