Thermoelastic stresses and defect production in semiconductor-insulator structures at isothermic heating
For semiconductor structure substrates with film coating disturbances we investigated thermoelastic stresses and their effect on defect production at isothermic heating. A developed mathematical model enables one to optimize the formation and annealing conditions for structures with film coating dis...
Збережено в:
Дата: | 2000 |
---|---|
Автори: | , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2000
|
Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121167 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Thermoelastic stresses and defect production in semiconductor-insulator structures at isothermic heating / O.A. Agueev, A.M. Svetlichnyi // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 3. — С. 338-342. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |