Thermoelastic stresses and defect production in semiconductor-insulator structures at isothermic heating

For semiconductor structure substrates with film coating disturbances we investigated thermoelastic stresses and their effect on defect production at isothermic heating. A developed mathematical model enables one to optimize the formation and annealing conditions for structures with film coating dis...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2000
Автори: Agueev, O.A., Svetlichnyi, A.M.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2000
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121167
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Thermoelastic stresses and defect production in semiconductor-insulator structures at isothermic heating / O.A. Agueev, A.M. Svetlichnyi // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 3. — С. 338-342. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine