Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation
The 80 Å and 100 Å thick Cr films and 45 Å thick Ti ones were obtained bу the vacuum evaporation on glass substrates. The ellipsometric parameter ψ (azimuth of the restored linear polarization ψ) was measured at λ = 546.1 nm both at the air side and the glass one under various angles of incidence. I...
Збережено в:
Дата: | 2006 |
---|---|
Автори: | Shybiko, Ya.A., Shaykevich, I.A., Melnichenko, L.Yu. |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2006
|
Назва видання: | Functional Materials |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139962 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation / Ya.A. Shybiko, I.A. Shaykevich, L.Yu. Melnichenko // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 1. — С. 161-163. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Ellipsometric Properties of Thin Films of Molybdenum at the Excitation of Surface Polaritons
за авторством: V. V. Lendel, та інші
Опубліковано: (2014) -
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
за авторством: Severynov, V.L., та інші
Опубліковано: (2005) -
Surface polariton excitation in ZnO films deposited using ALD
за авторством: Venger, E.F., та інші
Опубліковано: (2015) -
Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2003) -
Surface polariton excitation in ZnO films deposited using ALD
за авторством: E. F. Venger, та інші
Опубліковано: (2015)