Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
gettering
7
гетерування
reverse current
5
зворотний струм
5
варикап
3
defects
2
impurities
2
ohmic contact
2
silicon
2
structural defects
2
varicap
2
дефекти
2
домішки
2
омічний контакт
2
структурні дефекти
2
Cottrell atmosphere
1
Schottky diode
1
X-ray diffraction
1
aluminum
1
annealing
1
crystal lattice
1
diode
1
epitaxial growth
1
heterostructure
1
iron
1
lifetime
1
mass spectrometry
1
nickel atoms
1
oxidation stacking faults
1
rated capacitance
1
-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6von Gamov, D. V., Gudymenko, O. I., Kladko, V. P., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Polishchuk, Yu. O., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasekа, V. M.Volltext
Veröffentlicht 2018
Artikel -
7