Результати пошуку - Oberemok, O. S.
- Показ 1 - 10 результатів із 10
-
1
Borophosphosilicate glass component analysis using secondary neutral mass spectrometry за авторством Oberemok, O., Lytvyn, P.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2002)Отримати повний текст
Стаття -
2
AES and XPS characterization of TiN layers formed and modified by ion implantation за авторством Melnik, V., Popov, V., Kruger, D., Oberemok, O.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)Отримати повний текст
Стаття -
3
Ultrasound effect on radiation damages in boron implanted silicon за авторством Romanjuk, B., Krüger, D., Melnik, V., Popov, V., Olikh, Ya., Soroka, V., Oberemok, O.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)Отримати повний текст
Стаття -
4
Growth of silicon self-assembled nanowires by using gold-enhanced CVD technology за авторством Klimovskaya, A.I., Kalashnyk, Yu.Yu., Voroshchenko, A.T., Oberemok, O.S., Pedchenko, Yu.M., Lytvyn, P.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2018)Отримати повний текст
Стаття -
5
-
6
Influence of deposition rate and substrate temperature on structure and optical features of NiO thin film за авторством Oberemok, O.S., Sabov, T.M., Lisovskyy, I.P., Khacevych, I.M., Gudymenko, O.Yo., Nikirin, V.A., Voitovych, M.V.
Опубліковано в: Functional Materials (2016)Отримати повний текст
Стаття -
7
Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layers за авторством Oberemok, O.S., Litovchenko, V.G., Gamov, D.V., Popov, V.G., Melnik, V.P., Gudymenko, O.Yo., Nikirin, V.A., Khatsevich, І.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Отримати повний текст
Стаття -
8
Light-induced mass transport in amorphous chalcogenides/gold nanoparticles composites за авторством Trunov, M.L., Lytvyn, P.M., Nagy, P.M., Oberemok, O.S., Durkot, M.O., Tarnaii, A.A., Prokopenko, I.V., Rubish, V.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2013)Отримати повний текст
Стаття -
9
Oxygen ion-beam modification of vanadium oxide films for reaching a high value of the resistance temperature coefficient за авторством Sabov, T.M., Oberemok, O.S., Dubikovskyi, O.V., Melnik, V.P., Kladko, V.P., Romanyuk, B.M., Popov, V.G., Gudymenko, O.Yo., Safriuk, N.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2017)Отримати повний текст
Стаття -
10
Дослiдження рекомбiнацiйних характеристик Cz-кремнiю, iмплантованого iонами залiза за авторством Gamov, D. V., Gudymenko, O. I., Kladko, V. P., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Polishchuk, Yu. O., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasekа, V. M.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
mass spectrometry
мас-спектрометрiя
-
Hetero- and low-dimensional structures
Technology
X-ray diffraction
defects
depth profile
gettering
iron
iонне розпилення
lifetime
multilayer structure
silicon
simulation
sputtering
багатошаровi структури
гетерування
дефекти
залiзо
кремнiй
моделювання
профiлi розподiлу
рентгенiвська дифрактометрiя
час життя