Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
mass spectrometry
2
мас-спектрометрiя
-
1
X-ray diffraction
1
defects
1
depth profile
1
gettering
1
iron
1
iонне розпилення
1
lifetime
1
multilayer structure
1
silicon
1
simulation
1
sputtering
1
багатошаровi структури
1
гетерування
1
дефекти
1
залiзо
1
кремнiй
1
моделювання
1
профiлi розподiлу
1
рентгенiвська дифрактометрiя
1
час життя
1
-
1за авторством Gamov, D. V., Gudymenko, O. I., Kladko, V. P., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Polishchuk, Yu. O., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasekа, V. M.Отримати повний текст
Опубліковано 2018
Стаття -
2